496019227 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 62047-5-2011 cor1-2012 IEC 62047-5-2011 cor1-2012

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 62047-5-2011 cor1-2012 IEC 62047-5-2011 cor1-2012
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 62047-5-2011 cor1-2012» представляет собой международный стандарт, посвящённый методам и требованиям к исследованию и оценке материалов и компонентов для микро- и нанотехнологий. Основное назначение данного стандарта заключается в установлении гармонизированных критериев для оценки характеристик и свойств этих материалов, обеспечивая тем самым их корректное применение в различных отраслях. Стандарт применяется в области электроники, микроэлектромеханических систем (MEMS) и других высоких технологий, где важна точность и надёжность.

Ключевые регламентируемые аспекты включают методы испытаний, параметры измерений и требования к проведению экспертиз, необходимые для получения достоверных результатов. В частности, стандарт описывает условия, при которых должны проводиться испытания, такие как температура, влажность и давление, а также рекомендует использовать определённые документы для обоснования корректности методов. Важное внимание уделяется параметрам, отражающим механические и электрические свойства материалов, что имеет решающее значение для проектирования надёжных устройств.

Целевой аудиторией данного стандарта являются производители, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и проверкой качества продукции. Стандарт позволяет специалистам, работающим в области разработки и применения микро- и наноматериалов, ориентироваться на единые критерии оценки, что способствует улучшению качества и безопасности продукции. Кроме того, стандарт помогает обеспечить совместимость различных компонентов и систем, что актуально для современного производства.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции, а также в поддержании высоких стандартов охраны труда и охраны окружающей среды. Чёткие требования к испытаниям и оценкам позволяют минимизировать риски, связанные с использованием материалов, что в свою очередь повышает доверие к изделиям, произведённым с их применением. Также, документ включает изменения и дополнения, направленные на улучшение понимания и применения его требований, что позволяет адаптировать и развивать существующие практики.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 62047-42-2022 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 42: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 42: Методы измерения электромеханических характеристик пьезоэлектрических МЭМС микромостов PDF IEC 62047-41-2021 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 41: RF MEMS circulators and isolators Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 41: Радиочастотные MEMS-циркуляторы и изоляторы PDF IEC 62047-40-2021 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 40:Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 40: Методы тестирования порога микроразрядных инерционных МЭМС-переключателей PDF IEC 62047-5-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 5: RF MEMS switches Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 5: Радиочастотные МЭМС-переключатели PDF IEC 62047-6-2009 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials Полупроводниковые устройства – Микромеханические устройства – Часть 6: Методы испытаний на усталость осевого типа тонких материалов PDF IEC 62047-7-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 7: MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection Полупроводниковые устройства – Микромеханические устройства – Часть 7: Фильтры и дуплексеры BAW для MEMS для радиочастотного контроля и выбора