496019225 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 62047-42-2022 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 42: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 42: Методы измерения электромеханических характеристик пьезоэлектрических МЭМС микромостов

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 62047-42-2022 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 42: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 42: Методы измерения электромеханических характеристик пьезоэлектрических МЭМС микромостов
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 62047-42-2022» посвящён методам измерения электро-механических характеристик пьезоэлектрических МЭМС-кантилеверов. Он разработан для применения в области полупроводниковых устройств и микроэлектромеханических систем. Основное назначение стандарта заключается в обеспечении единого подхода к оценке и сравнительным испытаниям данных устройств, что способствует повышению надёжности и качества выходной продукции.

Документ регламентирует основные методы, параметры и процедуры испытаний, касающиеся электрических и механических характеристик пьезоэлектрических материалов. В частности, он описывает условия, в которых должны проводиться испытания, и документирует обязательные требования к измеряемым величинам, включая такие параметры, как чувствительность и рабочие диапазоны температур.

Ключевой технический аспект включает в себя определение классификаций пьезоэлектрических мемс-кантилеверов в зависимости от их конструктивных особенностей и области применения. Также описаны условия испытаний, которые необходимо учитывать при проведении исследований, а именно, стабильность температурного режима и взаимодействие с окружающей средой, что влияет на точность измерений.

Целевая аудитория данного стандарта включает разработчиков, производителей пьезоэлектрических устройств, лаборатории, осуществляющие испытания, а также контролирующие органы, отвечающие за соблюдение требований безопасности и качества. Соответствие данному документу обеспечит надежность результатов и создание безопасных для использования устройств.

Практическое значение стандарта отражается в его влиянии на безопасность, качество производства и охрану труда. Компании, следуя рекомендациям документа, могут увеличить свою конкурентоспособность на рынке, улучшая производственные процессы и снижая вероятность возникновении аварийных ситуаций. Также документ затрагивает изменения в процедурах испытаний, актуальные на момент его публикации, что подчеркивает необходимость регулярного обновления знаний в области измерительных технологий.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 62047-41-2021 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 41: RF MEMS circulators and isolators Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 41: Радиочастотные MEMS-циркуляторы и изоляторы PDF IEC 62047-40-2021 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 40:Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 40: Методы тестирования порога микроразрядных инерционных МЭМС-переключателей PDF IEC 62047-4-2008 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 4: Generic specification for MEMS Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 4: Общая спецификация для МЭМС PDF IEC 62047-5-2011 cor1-2012 IEC 62047-5-2011 cor1-2012 PDF IEC 62047-5-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 5: RF MEMS switches Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 5: Радиочастотные МЭМС-переключатели PDF IEC 62047-6-2009 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials Полупроводниковые устройства – Микромеханические устройства – Часть 6: Методы испытаний на усталость осевого типа тонких материалов