496019229 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 62047-5-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 5: RF MEMS switches Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 5: Радиочастотные МЭМС-переключатели

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 62047-5-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 5: RF MEMS switches Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 5: Радиочастотные МЭМС-переключатели
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 62047-5-2011» посвящён полупроводниковым устройствам, в частности микромеханическим устройствам (MEMS), и охватывает особенности проектирования и применения RF MEMS переключателей. Основное назначение стандарта заключается в установлении требований и методов, необходимых для разработки и производства данных устройств, что делает его актуальным для инженеров и производителей в данной области.

Ключевые регламентируемые аспекты документа включают методы испытаний, параметры работы и требования к изделиям, а также процедуры проверки качества. Стандарт определяет нормы для измеряемых величин, что позволяет обеспечить точность и надёжность работы RF MEMS переключателей в различных приложениях.

Важные технические детали охватывают условия испытаний, включая температурные и электрические характеристики, которые необходимы для оценки стабильности и производительности устройств. Классификация MEMS переключателей также рассматривается, что позволяет пользователям правильно выбирать и применять соответствующие технологии в зависимости от условий эксплуатации.

Целевая аудитория стандарта включает производителей, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся проверкой и сертификацией подобных устройств. Это делает документ важным инструментом для соблюдения международных норм и стандартов качества в области разработки полупроводниковых технологий.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество продукции и охрану труда. Соблюдение норм, предусмотренных «IEC 62047-5-2011», способствует улучшению совместимости устройств и увеличивает их надёжность в эксплуатации, что представляет собой значительное преимущество для всех участников отрасли.

Новые изменения в стандарте могут касаться обновления требований к методам оценки производительности и уточнения параметров, что отражает актуальные тенденции в области технологии MEMS и отвечает требованиям современного рынка. Эти дополнения направлены на улучшение эксплуатационных характеристик и безопасность пользователей.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 62047-5-2011 cor1-2012 IEC 62047-5-2011 cor1-2012 PDF IEC 62047-42-2022 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 42: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 42: Методы измерения электромеханических характеристик пьезоэлектрических МЭМС микромостов PDF IEC 62047-41-2021 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 41: RF MEMS circulators and isolators Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 41: Радиочастотные MEMS-циркуляторы и изоляторы PDF IEC 62047-6-2009 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials Полупроводниковые устройства – Микромеханические устройства – Часть 6: Методы испытаний на усталость осевого типа тонких материалов PDF IEC 62047-7-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 7: MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection Полупроводниковые устройства – Микромеханические устройства – Часть 7: Фильтры и дуплексеры BAW для MEMS для радиочастотного контроля и выбора PDF IEC 62047-8-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films Полупроводниковые устройства – Микромеханические устройства – Часть 8: Метод испытания изгиба полосы для измерения механических свойств тонких пленок