496020465 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 62433-3-2017 EMC IC modelling - Part 3: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Radiated emissions modelling (ICEM-RE) Моделирование ЭМС ИС - Часть 3: Модели интегрированных схем для поведенческого имитационного моделирования ЭМП - Моделирование излучаемых выбросов (ICEM-RE)

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 62433-3-2017 EMC IC modelling - Part 3: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Radiated emissions modelling (ICEM-RE) Моделирование ЭМС ИС - Часть 3: Модели интегрированных схем для поведенческого имитационного моделирования ЭМП - Моделирование излучаемых выбросов (ICEM-RE)
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 62433-3-2017 EMC IC modelling - Part 3: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Radiated emissions modelling (ICEM-RE)» предназначен для описания моделей интегральных схем (ИС), которые применяются для симуляции радиированных электромагнитных помех. Он охватывает методы и техники, позволяющие производителям и разработчикам понять поведение ИС в условиях радиированных помех, что критично для обеспечения совместимости электронных устройств в различных приложениях.

Основные аспекты, регулируемые данным стандартом, включают методы моделирования радиированных помех и параметры, необходимые для обеспечения корректности симуляций. Важные требования касаются условий испытаний, включая конкретные настройки оборудования и процедурные аспекты, а также зависимости между измеряемыми величинами и их поведением в разных условиях эксплуатации. Стандарт помогает установить единую методологию для оценки и минимизации радиированных помех на этапе разработки ИС.

Целевой аудиторией этого документа являются производители интегральных схем, научные лаборатории, а также контролирующие органы, заинтересованные в соответствии продукции стандартам электромагнитной совместимости. Специалисты в этих областях смогут воспользоваться представленными методами для повышения качества продукции и соответствия её требованиям, установленным на рынке.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и охрану труда. Применение стандартных моделей позволяет обеспечить совместимость изделий и минимизировать уровень радиированных помех, что способствует долговечности и надежности электронных устройств. Также данный стандарт способствует упрощению процесса сертификации и проверки соответствия, что полезно для всех участников рынка.

В том числе, в версии документа 2017 года могут быть отмечены изменения, касающиеся уточнения характеристик моделей и методов испытаний, что позволяет обеспечить более точные результаты при симуляции радиированных излучений. Эти дополнения направлены на улучшение понимания поведения ИС в условиях электромагнитной совместимости и повышения их надежности в реальных приложениях.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 62433-2-2017 EMC IC modelling – Part 2: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation – Conducted emissions modelling (ICEM-CE) Моделирование ЭМС ИС – Часть 2: Модели интегрированных схем для поведенческого имитационного моделирования ЭМП – Моделирование проводимых выбросов (ICEM-CE) PDF IEC 62433-1-2019 EMC IC modelling - Part 1: General modelling framework Моделирование ИКС - Часть 1: Общая основа моделирования PDF IEC 62433-1-2019 cor1-2020 IEC 62433-1-2019 cor1-2020 PDF IEC 62433-4-2016 EMC IC modelling – Part 4: Models of integrated circuits for RF immunity behavioural simulation – Conducted immunity modelling (ICIM-CI) Моделирование ЭМС ИС – Часть 4: Модели интегрированных схем для поведенческого имитационного моделирования радиоиммунитета – Моделирование иммунитета по проводам (ICIM-CI) PDF IEC 62433-6-2020 EMC IC modelling - Part 6: Models of integrated circuits for pulse immunity behavioural simulation - Conducted pulse immunity modelling (ICIM-CPI) Моделирование ЭМС ИС - Часть 6: Модели интегрированных схем для поведенческого имитационного моделирования импульсной иммунитет - Моделирование импульсной иммунитет проводимости (ИС-ИИП) PDF IEC 62435-1-2017 Electronic components – Long-term storage of electronic semiconductor devices – Part 1: General Электронные компоненты – Долгосрочное хранение электронных полупроводниковых устройств – Часть 1: Общие положения