496020469 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 62433-6-2020 EMC IC modelling - Part 6: Models of integrated circuits for pulse immunity behavioural simulation - Conducted pulse immunity modelling (ICIM-CPI) Моделирование ЭМС ИС - Часть 6: Модели интегрированных схем для поведенческого имитационного моделирования импульсной иммунитет - Моделирование импульсной иммунитет проводимости (ИС-ИИП)

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 62433-6-2020 EMC IC modelling - Part 6: Models of integrated circuits for pulse immunity behavioural simulation - Conducted pulse immunity modelling (ICIM-CPI) Моделирование ЭМС ИС - Часть 6: Модели интегрированных схем для поведенческого имитационного моделирования импульсной иммунитет - Моделирование импульсной иммунитет проводимости (ИС-ИИП)
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 62433-6-2020 EMC IC modelling - Part 6: Models of integrated circuits for pulse immunity behavioural simulation - Conducted pulse immunity modelling (ICIM-CPI)» устанавливает стандарты для моделирования интегральных схем в контексте их устойчивости к импульсным воздействиям. Основное назначение данного документа заключается в обеспечении методологических подходов к оценке поведения интегральных схем (ИС) в условиях импульсных электромагнитных полей, что важно для разработки надежной и безопасной электроники.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми в документе, являются методы проведения испытаний, параметры настройки и требования к моделям, которые позволяют смоделировать реакцию ИС на проводимые импульсные возмущения. В документе подробно описаны процедуры, соответствующие испытаниям, а также рекомендуемые параметры, такие как амплитуда, продолжительность и форма импульса, которые должны учитываться при проведении тестов на устойчивость.

Важно отметить, что документ также включает технические детали, касающиеся условий испытаний, таких как температура окружающей среды, уровень влажности и другие факторы, которые могут повлиять на результаты. Классификации моделей и измеряемые величины, такие как изменения в параметрах работы ИС под воздействием импульсных сигналов, касаются ключевых аспектов проверки их надежности.

Целевая аудитория стандарта включает производителей интегральных схем, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, обеспечивающие соблюдение норм EMC (электромагнитная совместимость). Стандарт предоставляет производителям необходимые инструменты для повышения качества и безопасности своей продукции, способствуя созданию более надежных и устойчивых к электромагнитным воздействиям устройств.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность электроники, качество конечных продуктов и их соответствие международным требованиям. Улучшенная совместимость ИС приводит к снижению риска сбоев в работе оборудования и обеспечивает большую защиту от электромагнитных помех, что, в свою очередь, повышает уровень охраны труда и безопасности пользователей.

В ходе актуализации документа учтены последние исследования и разработки в области моделирования импульсной устойчивости, что делает стандарт более соответствующим современным требованиям и технологиям. Это дополнение важно для разработки новых моделей и дальнейшего совершенствования методов испытаний, что будет способствовать повышению общей надежности и эффективности интегральных схем.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 62433-4-2016 EMC IC modelling – Part 4: Models of integrated circuits for RF immunity behavioural simulation – Conducted immunity modelling (ICIM-CI) Моделирование ЭМС ИС – Часть 4: Модели интегрированных схем для поведенческого имитационного моделирования радиоиммунитета – Моделирование иммунитета по проводам (ICIM-CI) PDF IEC 62433-3-2017 EMC IC modelling - Part 3: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Radiated emissions modelling (ICEM-RE) Моделирование ЭМС ИС - Часть 3: Модели интегрированных схем для поведенческого имитационного моделирования ЭМП - Моделирование излучаемых выбросов (ICEM-RE) PDF IEC 62433-2-2017 EMC IC modelling – Part 2: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation – Conducted emissions modelling (ICEM-CE) Моделирование ЭМС ИС – Часть 2: Модели интегрированных схем для поведенческого имитационного моделирования ЭМП – Моделирование проводимых выбросов (ICEM-CE) PDF IEC 62435-1-2017 Electronic components – Long-term storage of electronic semiconductor devices – Part 1: General Электронные компоненты – Долгосрочное хранение электронных полупроводниковых устройств – Часть 1: Общие положения PDF IEC 62435-2-2017 Electronic components – Long-term storage of electronic semiconductor devices – Part 2: Deterioration mechanisms Электронные компоненты – Долгосрочное хранение электронных полупроводниковых устройств – Часть 2: Механизмы деградации PDF IEC 62435-3-2020 Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 3: Data Электронные компоненты - Долгосрочное хранение электронных полупроводниковых устройств - Часть 3: Данные