496020467 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 62433-4-2016 EMC IC modelling – Part 4: Models of integrated circuits for RF immunity behavioural simulation – Conducted immunity modelling (ICIM-CI) Моделирование ЭМС ИС – Часть 4: Модели интегрированных схем для поведенческого имитационного моделирования радиоиммунитета – Моделирование иммунитета по проводам (ICIM-CI)

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 62433-4-2016 EMC IC modelling – Part 4: Models of integrated circuits for RF immunity behavioural simulation – Conducted immunity modelling (ICIM-CI) Моделирование ЭМС ИС – Часть 4: Модели интегрированных схем для поведенческого имитационного моделирования радиоиммунитета – Моделирование иммунитета по проводам (ICIM-CI)
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 62433-4-2016 EMC IC modelling – Part 4: Models of integrated circuits for RF immunity behavioural simulation – Conducted immunity modelling (ICIM-CI)» предназначен для стандартизации моделей интегральных схем, применяемых в симуляциях их устойчивости к радиочастотным помехам. Он нацелен на разработчиков, тестовые лаборатории, а также регулирующие органы, заинтересованные в обеспечении надежности компонентов в электромагнитной среде.

Основное внимание в документе уделяется методам моделирования, параметрам и требованиям, необходимым для оценки устойчивости интегральных схем к проводимым электромагнитным помехам. Описываются процедуры измерения и анализа, позволяющие оценить уровень проводимых помех и их влияние на функциональность схем. Эти аспекты крайне важны для обеспечения качества и долговечности электронных устройств.

Важные технические детали включают условия испытаний, такие как уровни напряжения и частота испытательных сигналов, а также классификации и измеряемые величины, которые необходимы для точной оценки устойчивости к помехам. Стандарт обращает внимание на необходимость соблюдения определенных протоколов для получения достоверных результатов, что должно быть учтено всеми участниками процесса.

Целевая аудитория документа включает производителей интегральных схем, лаборатории, проводящие тестирование и сертификацию, а также регулирующие органы, которые контролируют соответствие продукции установленным нормам. Документ служит более широкому сообществу, стремящемуся к повышению стандартов безопасности и надежности в области электроники.

Практическое значение стандарта проявляется в его способности повышать безопасность, качество и устойчивость продукции, что, в свою очередь, влияет на защиту труда и совместимость различных компонентов. Применение этого стандарта позволяет производителям избежать сбоев и неисправностей, что снижает риски для пользователей и повышает доверие к продукции.

Документ обновляет существующие методики, добавляя новые параметры и условия тестирования, что отражает современные реалии и требования к устойчивости интегральных схем. Эти изменения обеспечивают более точные и актуальные средства для оценки и тестирования, что вносит значительный вклад в развитие данной области.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 62433-3-2017 EMC IC modelling - Part 3: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Radiated emissions modelling (ICEM-RE) Моделирование ЭМС ИС - Часть 3: Модели интегрированных схем для поведенческого имитационного моделирования ЭМП - Моделирование излучаемых выбросов (ICEM-RE) PDF IEC 62433-2-2017 EMC IC modelling – Part 2: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation – Conducted emissions modelling (ICEM-CE) Моделирование ЭМС ИС – Часть 2: Модели интегрированных схем для поведенческого имитационного моделирования ЭМП – Моделирование проводимых выбросов (ICEM-CE) PDF IEC 62433-1-2019 EMC IC modelling - Part 1: General modelling framework Моделирование ИКС - Часть 1: Общая основа моделирования PDF IEC 62433-6-2020 EMC IC modelling - Part 6: Models of integrated circuits for pulse immunity behavioural simulation - Conducted pulse immunity modelling (ICIM-CPI) Моделирование ЭМС ИС - Часть 6: Модели интегрированных схем для поведенческого имитационного моделирования импульсной иммунитет - Моделирование импульсной иммунитет проводимости (ИС-ИИП) PDF IEC 62435-1-2017 Electronic components – Long-term storage of electronic semiconductor devices – Part 1: General Электронные компоненты – Долгосрочное хранение электронных полупроводниковых устройств – Часть 1: Общие положения PDF IEC 62435-2-2017 Electronic components – Long-term storage of electronic semiconductor devices – Part 2: Deterioration mechanisms Электронные компоненты – Долгосрочное хранение электронных полупроводниковых устройств – Часть 2: Механизмы деградации