IEC 62951-3-2018 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 3: Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging

Название документа

Вид документа

Принявший орган

Статус

Скрыто

Дата принятия

Скрыто

Дата начала действия

Скрыто

Скачать документ нельзя. Можно заказать бесплатно один документ

Международные и зарубежные стандарты ( ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.

Возможно вас заинтересуют

IEC 62951-2-2019 Semiconductor devices – Flexible and stretchable semiconductor devices – Part 2: Evaluation method for electron mobility, sub-threshold swing, and threshold voltage of flexible devices

IEC 62951-1-2017 Semiconductor devices – Flexible and stretchable semiconductor devices – Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates

IEC 62949-2017 Particular safety requirements for equipment to be connected to information and communication networks

IEC 62951-4-2019 Semiconductor devices – Flexible and stretchable semiconductor devices – Part 4: Fatigue evaluation for flexible conductive thin film on the substrate for flexible semiconductor devices

IEC 62951-5-2019 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 5: Test method for thermal characteristics of flexible materials

IEC 62951-6-2019 Semiconductor devices – Flexible and stretchable semiconductor devices – Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films