Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 62951-5-2019 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 5: Test method for thermal characteristics of flexible materials Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства - Часть 5: Метод испытаний термических характеристик гибких материалов

Название документа
IEC 62951-5-2019 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 5: Test method for thermal characteristics of flexible materials Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства - Часть 5: Метод испытаний термических характеристик гибких материалов
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 62951-5-2019» предназначен для определения методов испытаний термических характеристик гибких и растяжимых полупроводниковых материалов. Он нацелен на проектировщиков, производителей, исследовательские и испытательные лаборатории, а также регулирующие органы, занимающиеся сертификацией данных устройств.

Основным аспектом данного стандарта является метод тестирования, позволяющий оценивать термические характеристики гибких материалов, включая их теплопроводность и устойчивость к температурным изменениям. Стандарт регулирует параметры испытаний, такие как температура, время воздействия и условия окружающей среды, что обеспечивает единую основу для сравнения и проверки материалов на рынке.

Ключевыми требованиями являются необходимость соблюдения стандартных условий испытаний и точность измерений, что критично для оценки свойств материалов в реальных условиях эксплуатации. Документ также включает классификации, которые помогают определить относительную хрупкость и долговечность материалов при различных воздействиям, что особенно важно в сфере безопасности.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество гибких полупроводниковых устройств. Соблюдение рекомендаций обеспечивает надежность работы таких устройств, минимизирует риски ошибок и несоответствий, что в свою очередь положительно сказывается на охране труда и совместимости различных технологий.

Согласно последним обновлениям, были добавлены уточнения по методологии тестирования и зарегистрированы новые параметры, что позволяет более точно оценивать материал в процессе разработки. Эти изменения согласуются с постоянным развитием технологий в области гибкой электроники и решают актуальные проблемы, возникающие в ходе сертификации продукции.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 62951-4-2019 Semiconductor devices – Flexible and stretchable semiconductor devices – Part 4: Fatigue evaluation for flexible conductive thin film on the substrate for flexible semiconductor devices Полупроводниковые устройства – Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства – Часть 4: Оценка усталости гибкого проводящего тонкого слоя на субстрате для гибких полупроводниковых устройств PDF IEC 62951-3-2018 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 3: Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства - Часть 3: Оценка характеристик тонкопленочного транзистора на гибких субстратах при деформации PDF IEC 62951-2-2019 Semiconductor devices – Flexible and stretchable semiconductor devices – Part 2: Evaluation method for electron mobility, sub-threshold swing, and threshold voltage of flexible devices Полупроводниковые устройства – Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства – Часть 2: Метод оценки подвижности электронов, подпорогового спада и порогового напряжения гибких устройств PDF IEC 62951-6-2019 Semiconductor devices – Flexible and stretchable semiconductor devices – Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films Полупроводниковые устройства – Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства – Часть 6: Метод испытаний поверхностного сопротивления гибких проводящих пленок PDF IEC 62951-7-2019 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 7: Test method for characterizing the barrier performance of thin film encapsulation for flexible organic semiconductor Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства - Часть 7: Метод испытаний характеристик барьера тонкой пленочной изоляции для гибких органических полупроводников PDF IEC 62951-8-2023 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 8: Test method for stretchability, flexibility, and stability of flexible resistive memory Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства - Часть 8: Метод испытаний растяжимости, гибкости и стабильности гибких резистивных памяти