Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 62951-4-2019 Semiconductor devices – Flexible and stretchable semiconductor devices – Part 4: Fatigue evaluation for flexible conductive thin film on the substrate for flexible semiconductor devices Полупроводниковые устройства – Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства – Часть 4: Оценка усталости гибкого проводящего тонкого слоя на субстрате для гибких полупроводниковых устройств

Название документа
IEC 62951-4-2019 Semiconductor devices – Flexible and stretchable semiconductor devices – Part 4: Fatigue evaluation for flexible conductive thin film on the substrate for flexible semiconductor devices Полупроводниковые устройства – Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства – Часть 4: Оценка усталости гибкого проводящего тонкого слоя на субстрате для гибких полупроводниковых устройств
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 62951-4-2019» представляет собой международный стандарт, посвящённый оценке утомляемости гибких проводящих тонких плёнок на подложках для гибких полупроводниковых устройств. Его основное назначение заключается в установлении единой методологии для определения долговечности и надёжности таких материалов при различных эксплуатационных условиях. Стандарт применяется в области разработки и тестирования новых типов полупроводниковых устройств, использующих гибкие и растяжимые материалы.

Ключевыми регламентируемыми аспектами данного документа являются методы испытаний, параметры операций и требования к условиям тестирования. В частности, стандарт описывает подходы к оценке механических свойств материалов, а также параметры, такие как температура, влажность и продолжительность испытаний. Эти аспекты играют существенную роль в обеспечении точности и воспроизводимости результатов исследований.

Важно отметить, что стандарт включает в себя тщательно разработанные технические детали, касающиеся условий испытаний и классификации материалов. Измеряемые величины, такие как проводимость, устойчивость к деформации и другие физические характеристики, являются основными показателями, воздействующих на производительность полупроводниковых устройств. Эти спецификации также определяют уровень надёжности, необходимый для адаптации устройств к реальным условиям эксплуатации.

Целевая аудитория документа включает производителей полупроводников, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся безопасностью и качеством электроники. Стандарт служит надежной основой для оценки свойств и стабильности новых гибких устройств, что позволяет облегчить процесс сертификации и повысить уровень доверия со стороны потребителей и регуляторов.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость гибких полупроводниковых устройств. Оценка утомляемости материалов, рекомендованная в документе, может существенно снизить риски, связанные с сбоем устройств в процессе эксплуатации. В заключение, любые изменения или дополнения к стандарту должны быть направлены на улучшение методов испытаний и расширение их применения в новых технологиях, что делает документ актуальным для будущего развития данной области.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 62951-3-2018 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 3: Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства - Часть 3: Оценка характеристик тонкопленочного транзистора на гибких субстратах при деформации PDF IEC 62951-2-2019 Semiconductor devices – Flexible and stretchable semiconductor devices – Part 2: Evaluation method for electron mobility, sub-threshold swing, and threshold voltage of flexible devices Полупроводниковые устройства – Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства – Часть 2: Метод оценки подвижности электронов, подпорогового спада и порогового напряжения гибких устройств PDF IEC 62951-1-2017 Semiconductor devices – Flexible and stretchable semiconductor devices – Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates Полупроводниковые устройства – Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства – Часть 1: Метод испытаний изгиба для проводящих тонких пленок на гибких субстратах PDF IEC 62951-5-2019 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 5: Test method for thermal characteristics of flexible materials Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства - Часть 5: Метод испытаний термических характеристик гибких материалов PDF IEC 62951-6-2019 Semiconductor devices – Flexible and stretchable semiconductor devices – Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films Полупроводниковые устройства – Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства – Часть 6: Метод испытаний поверхностного сопротивления гибких проводящих пленок PDF IEC 62951-7-2019 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 7: Test method for characterizing the barrier performance of thin film encapsulation for flexible organic semiconductor Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства - Часть 7: Метод испытаний характеристик барьера тонкой пленочной изоляции для гибких органических полупроводников