Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 62951-6-2019 Semiconductor devices – Flexible and stretchable semiconductor devices – Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films Полупроводниковые устройства – Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства – Часть 6: Метод испытаний поверхностного сопротивления гибких проводящих пленок

Название документа
IEC 62951-6-2019 Semiconductor devices – Flexible and stretchable semiconductor devices – Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films Полупроводниковые устройства – Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства – Часть 6: Метод испытаний поверхностного сопротивления гибких проводящих пленок
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 62951-6-2019» предназначен для установления стандартов в области полупроводниковых устройств, а именно гибких и растяжимых полупроводниковых устройств. Он нужен для обеспечения единообразия в процедурах оценки и контроля качества этих технологий, которые становятся всё более актуальными в различных отраслях, таких как электроника, носимые устройства и медицина.

Ключевым аспектом данной нормы является метод измерения удельного сопротивления гибких проводящих пленок. В документе прописаны параметры испытаний, включая диапазоны температур, используемые материалы и условия, при которых проводятся испытания на устойчивость к механическим деформациям. Примеры методов включают четырехконтактные измерения, которые обеспечивают высокой точностью и повторяемостью результатов.

Важные технические детали охватывают условия испытаний, такие как влажность и температура, а также классификации и измеряемые величины, такие какsheet resistance. Это критически важно для достижения производительности полупроводниковых устройств и обеспечения их надежности в эксплуатации. Документ также предоставляет рекомендации по требования к оборудованию для испытаний и калибровке измерительных приборов.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, лаборатории по испытаниям и сертификации, а также контролирующие органы, которые заинтересованы в обеспечении качества и безопасности изделий. Стандарт помогает организовать процесс тестирования, минимизируя риски и повышая доверие как со стороны потребителей, так и со стороны регуляторных органов.

Практическое значение этого стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции, а также на соблюдение норм охраны труда и совместимости устройств. Он способствует улучшению процессов производства и повышения уверенности в сертифицированных продуктах, что благоприятно сказывается на рынке гибкой электроники. При наличии изменений или дополнений в стандарт функции документа остаются прежними, однако уточняются методики тестирования и добавляются новые подходы к измерениям, что делает его актуальным для новых технологических условий.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 62951-5-2019 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 5: Test method for thermal characteristics of flexible materials Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства - Часть 5: Метод испытаний термических характеристик гибких материалов PDF IEC 62951-4-2019 Semiconductor devices – Flexible and stretchable semiconductor devices – Part 4: Fatigue evaluation for flexible conductive thin film on the substrate for flexible semiconductor devices Полупроводниковые устройства – Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства – Часть 4: Оценка усталости гибкого проводящего тонкого слоя на субстрате для гибких полупроводниковых устройств PDF IEC 62951-3-2018 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 3: Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства - Часть 3: Оценка характеристик тонкопленочного транзистора на гибких субстратах при деформации PDF IEC 62951-7-2019 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 7: Test method for characterizing the barrier performance of thin film encapsulation for flexible organic semiconductor Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства - Часть 7: Метод испытаний характеристик барьера тонкой пленочной изоляции для гибких органических полупроводников PDF IEC 62951-8-2023 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 8: Test method for stretchability, flexibility, and stability of flexible resistive memory Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства - Часть 8: Метод испытаний растяжимости, гибкости и стабильности гибких резистивных памяти PDF IEC 62951-9-2022 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells Полупроводниковые устройства - Гибкие и растяжимые полупроводниковые устройства - Часть 9: Методы испытаний характеристик однотранзисторного и однорезисторного (1T1R) резистивных ячеек памяти