Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN 50452-2-2009 Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 2: Determination of particles by optical particle counters Тестирование материалов для технологии полупроводников - Метод тестирования для анализа частиц в жидкостях - Часть 2: Определение частиц оптическими счетчиками частиц

Название документа
DIN 50452-2-2009 Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 2: Determination of particles by optical particle counters Тестирование материалов для технологии полупроводников - Метод тестирования для анализа частиц в жидкостях - Часть 2: Определение частиц оптическими счетчиками частиц
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN 50452-2-2009» представляет собой стандарт, регулирующий методику и процедуры анализа частиц в жидкостях, применяемые в области полупроводниковой технологии. Основное назначение данного документа заключается в определении требований к методам тестирования, обеспечивающим высокую точность и повторяемость измерений при анализе частиц с использованием оптических счетчиков.

Стандарт включает регламентированные аспекты, касающиеся различных методов, параметров и требований, необходимых для осуществления точного анализа. Важным элементом документа является описание условий испытаний, таких как температура, давление и свойства жидкости, а также методы калибровки используемого оборудования.

Одной из ключевых технических деталей данного стандарта является классификация измеряемых величин, а также конкретные параметры, которые должны учитываться при проведении тестирования. Документ также отмечает необходимость регулярного контроля и валидации оборудования, что крайне важно для поддержания высоких стандартов точности в анализах, используемых в полупроводниковой промышленности.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводников, лаборатории, занимающиеся тестированием, а также контролирующие органы, ответственные за соблюдение норм и стандартов в данной области. Осознание специализированных требований, изложенных в документе, необходимо для обеспечения безопасной и качественной работы в сфере полупроводниковой технологии.

Практическое значение данного стандарта проявляется в его влиянии на безопасность, качество и охрану труда при производстве полупроводниковых устройств. Высокое качество анализа частиц способствует улучшению характеристик продуктов и их соответствию установленным требованиям, что, в свою очередь, повышает конкурентоспособность на рынке.

Стандарт «DIN 50452-2-2009» также может содержать изменения или дополнения по сравнению с предыдущими версиями, направленные на улучшение методологических подходов к тестированию. Все изменения фиксируются с точным указанием актуальных методов и технологий, что обеспечивает его значимость и актуальность для профессионалов в данной области.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN 50452-1-1995 Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 1: Microscopic determination of particles Тестирование материалов для технологии полупроводников - Метод тестирования для анализа частиц в жидкостях - Часть 1: Микроскопическое определение частиц PDF DIN 50451-8 E-2022 PDF DIN 50451-8-2022 Pruefung von Materialien fuer die Halbleitertechnologie - Bestimmung von Elementspuren in Fluessigkeiten - Teil 8: Bestimmung von 33 Elementen in hochreiner Schwefelsaeure mittels ICP-MS Проверка материалов для полупроводниковой технологии - определение примесей в жидкостях - часть 8: определение 33 элементов в высокочистой серной кислоте методом ICP-MS PDF DIN 50452-3-1995 Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 3: Calibration of optical particle counters Тестирование материалов для технологии полупроводников - Метод тестирования для анализа частиц в жидкостях - Часть 3: Калибровка оптических счетчиков частиц PDF DIN 50453-1-1990 Testing of materials for semiconductor technology; determination of etch rates of etching mixtures; silicium monocrystals; gravimetric method Тестирование материалов для технологии полупроводников; определение скорости травления травящих смесей; монокристаллы кремния; метод гравиметрии PDF DIN 50453-2-1990 Spectrophotometric determination of etch rate of mixtures for etching silicon dioxide coatings for use in semiconductor technology Спектрофотометрическое определение скорости травления смесей для травления оксидных покрытий кремния, используемых в технологии полупроводников