Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN 50452-3-1995 Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 3: Calibration of optical particle counters Тестирование материалов для технологии полупроводников - Метод тестирования для анализа частиц в жидкостях - Часть 3: Калибровка оптических счетчиков частиц

Название документа
DIN 50452-3-1995 Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 3: Calibration of optical particle counters Тестирование материалов для технологии полупроводников - Метод тестирования для анализа частиц в жидкостях - Часть 3: Калибровка оптических счетчиков частиц
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN 50452-3-1995» представляет собой стандарт, который описывает метод испытаний, применяемый для анализа частиц в жидкостях, относящихся к технологии полупроводников. Основное назначение данного документа заключается в предоставлении четких инструкций и методик, позволяющих проводить калибровку оптических счетчиков частиц. Это особенно важно в тех областях, где чистота жидкости является критическим фактором, таких как производство полупроводников, фармацевтика и медицина.

Стандарт регламентирует основные аспекты, касающиеся методологии, параметров измерений и требований к оборудованию, используемому в процессе калибровки. Подробно описываются ключевые параметры, включая размер частиц, объем проб, а также необходимые условия тестирования, такие как температура и давление. Эти параметры обеспечивают согласованность результатов и позволяют выявлять возможные отклонения в процессе анализа.

Среди важных технических деталей документа следует отметить спецификации по классификации частиц, а также методы и нормы, используемые для оценки измеряемых величин. Ограничение диапазона частиц и детальная схема калибровки прибора имеют решающее значение для достижения высокой точности и надежности измерений. Важным аспектом является также описание методики согласования результатов с международными стандартами, что способствует унификации процедур оценки.

Целевая аудитория документа охватывает производителей, научные исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся качеством продукции. Стандарт служит руководством для предприятий, стремящихся соблюдать высокие требования по чистоте и качеству своих продуктов, а также для тех, кто проводит испытания и сертификацию оборудования. Актуальность и доступность данного документа обеспечивают его использование в профессиональной среде.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и охрану труда. Правильное использование норм и регламентов, описанных в документе, способно снизить риски, связанные с загрязнением и обеспечивать совместимость производимых материалов. Стандарт способствует улучшению общей эффективности процессов в отраслях, зависящих от чистоты жидкостей, тем самым повышая уверенность в конечной продукции.

Кроме того, в dokumente представлены изменения и дополнения, касающиеся методов испытаний и уточнения параметров, что позволяет пользователям следовать актуальным требованиям и рекомендациям. Это обновление повышает надежность и актуальность стандартов в динамично развивающихся областях полупроводниковой технологии и смежных дисциплинах.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN 50452-2-2009 Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 2: Determination of particles by optical particle counters Тестирование материалов для технологии полупроводников - Метод тестирования для анализа частиц в жидкостях - Часть 2: Определение частиц оптическими счетчиками частиц PDF DIN 50452-1-1995 Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 1: Microscopic determination of particles Тестирование материалов для технологии полупроводников - Метод тестирования для анализа частиц в жидкостях - Часть 1: Микроскопическое определение частиц PDF DIN 50451-8 E-2022 PDF DIN 50453-1-1990 Testing of materials for semiconductor technology; determination of etch rates of etching mixtures; silicium monocrystals; gravimetric method Тестирование материалов для технологии полупроводников; определение скорости травления травящих смесей; монокристаллы кремния; метод гравиметрии PDF DIN 50453-2-1990 Spectrophotometric determination of etch rate of mixtures for etching silicon dioxide coatings for use in semiconductor technology Спектрофотометрическое определение скорости травления смесей для травления оксидных покрытий кремния, используемых в технологии полупроводников PDF DIN 50455-1-2009 Testing of materials for semiconductor technology - Methods for characterizing photoresists - Part 1: Determination of coating thickness with optical methods Тестирование материалов для технологии полупроводников - Методы характеристики фотофоточувствительных материалов - Часть 1: Определение толщины покрытия оптическими методами