Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN 50453-1-1990 Testing of materials for semiconductor technology; determination of etch rates of etching mixtures; silicium monocrystals; gravimetric method Тестирование материалов для технологии полупроводников; определение скорости травления травящих смесей; монокристаллы кремния; метод гравиметрии

Название документа
DIN 50453-1-1990 Testing of materials for semiconductor technology; determination of etch rates of etching mixtures; silicium monocrystals; gravimetric method Тестирование материалов для технологии полупроводников; определение скорости травления травящих смесей; монокристаллы кремния; метод гравиметрии
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN 50453-1-1990» посвящен методам испытаний материалов, используемых в полупроводниковой технологии. Он устанавливает единые стандарты и требования для различных материалов, чтобы обеспечить их надежность и безопасность в промышленном производстве. Основное назначение документа — это формирование общего подхода к тестированию, который может быть применён в различных областях полупроводниковой технологии.

Документ регламентирует ключевые методы испытаний, параметры, а также технические требования, которым должны соответствовать испытуемые материалы. В частности, он освещает условия проведения испытаний, включая как физические, так и химические параметры, а также требования к точности измерений и методам анализа. Эти регламентации позволяют обеспечивать консистентность результатов в тестах различных материалов.

Среди важных технических деталей, рассматриваемых в стандарте, выделяются классификации материалов и измеряемые величины, которые играют значительную роль в оценке их характеристик. Условия испытаний, такие как температура, влажность и другие факторы окружающей среды, также детализированы, что позволяет получать репрезентативные данные, необходимые для дальнейших исследований и сертификаций.

Целевая аудитория данного документа включает производителей полупроводниковых материалов, лаборатории, занимающиеся тестированием, и контролирующие органы, осуществляющие надзор за качеством продукции. Стандарт служит важным инструментом для всех участников цепочки поставок, обеспечивая единые критерии для оценки материалов и технологий.

Практическое значение стандарта «DIN 50453-1-1990» заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковой продукции. Соблюдение данного стандарта способствует улучшению условий труда и обеспечению совместимости различных компонентов в электросистемах. Кроме того, любые внесённые изменения или дополнения к стандарту подчеркивают его актуальность и необходимость в современных условиях, что обеспечивает дополнительную защиту интересов потребителей и производителей.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN 50452-3-1995 Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 3: Calibration of optical particle counters Тестирование материалов для технологии полупроводников - Метод тестирования для анализа частиц в жидкостях - Часть 3: Калибровка оптических счетчиков частиц PDF DIN 50452-2-2009 Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 2: Determination of particles by optical particle counters Тестирование материалов для технологии полупроводников - Метод тестирования для анализа частиц в жидкостях - Часть 2: Определение частиц оптическими счетчиками частиц PDF DIN 50452-1-1995 Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 1: Microscopic determination of particles Тестирование материалов для технологии полупроводников - Метод тестирования для анализа частиц в жидкостях - Часть 1: Микроскопическое определение частиц PDF DIN 50453-2-1990 Spectrophotometric determination of etch rate of mixtures for etching silicon dioxide coatings for use in semiconductor technology Спектрофотометрическое определение скорости травления смесей для травления оксидных покрытий кремния, используемых в технологии полупроводников PDF DIN 50455-1-2009 Testing of materials for semiconductor technology - Methods for characterizing photoresists - Part 1: Determination of coating thickness with optical methods Тестирование материалов для технологии полупроводников - Методы характеристики фотофоточувствительных материалов - Часть 1: Определение толщины покрытия оптическими методами PDF DIN 50455-2-1999 Testing of materials for semiconductor technology - Methods for the characterisation photoresists - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists Тестирование материалов для технологии полупроводников - Методы характеристики фотофоточувствительных материалов - Часть 2: Определение фоточувствительности положительных фотофоточувствительных материалов