Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN 50453-2-1990 Spectrophotometric determination of etch rate of mixtures for etching silicon dioxide coatings for use in semiconductor technology Спектрофотометрическое определение скорости травления смесей для травления оксидных покрытий кремния, используемых в технологии полупроводников

Название документа
DIN 50453-2-1990 Spectrophotometric determination of etch rate of mixtures for etching silicon dioxide coatings for use in semiconductor technology Спектрофотометрическое определение скорости травления смесей для травления оксидных покрытий кремния, используемых в технологии полупроводников
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN 50453-2-1990» регламентирует спектрофотометрический метод определения скорости травления смесей, используемых для травления покрытий из кремний-диоксида в полупроводниковой технологии. Этот стандарт применяется в производственных процессах, где необходимо контролировать качество и скорость травления для обеспечения стабильных характеристик конечного продукта.

Ключевыми аспектами документа являются методы спектрофотометрического анализа, параметры, которые необходимо учитывать при проведении испытаний, и требования к точности измерений. Основное внимание уделяется деталям, касающимся подготовки образцов, условий проведения испытаний и методов верификации результатов, что обеспечивает достоверность полученных значений скорости травления.

Технические детали включают минимальные и максимальные предельные значения температуры и давления во время испытаний, а также спецификации на используемое оборудование. Важными измеряемыми величинами являются концентрация компонентов в смеси, скорость травления и эффективность проведения процесса, что позволяет лабораториям точно и быстро проводить контроль качества.

Целевой аудиторией стандартов являются производители полупроводниковых материалов, лаборатории, занимающиеся научными исследованиями, а также контролирующие органы, отвечающие за соблюдение технических регламентов в данной области. Документ предназначен для специалистов, работающих в области разработок и тестирования полупроводников, а также для специалистов по контролю качества продукции.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на обеспечение безопасности, качества и совместимости полупроводниковых компонентов. Использование стандарта способствует улучшению условий труда в производственных лабораториях и повышает уровень надежности и безопасности конечной продукции. В последние обновления были внесены уточнения по правилам эксплуатации оборудования и методам проверки, что добавляет дополнительную ценность для пользователей стандарта.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN 50453-1-1990 Testing of materials for semiconductor technology; determination of etch rates of etching mixtures; silicium monocrystals; gravimetric method Тестирование материалов для технологии полупроводников; определение скорости травления травящих смесей; монокристаллы кремния; метод гравиметрии PDF DIN 50452-3-1995 Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 3: Calibration of optical particle counters Тестирование материалов для технологии полупроводников - Метод тестирования для анализа частиц в жидкостях - Часть 3: Калибровка оптических счетчиков частиц PDF DIN 50452-2-2009 Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 2: Determination of particles by optical particle counters Тестирование материалов для технологии полупроводников - Метод тестирования для анализа частиц в жидкостях - Часть 2: Определение частиц оптическими счетчиками частиц PDF DIN 50455-1-2009 Testing of materials for semiconductor technology - Methods for characterizing photoresists - Part 1: Determination of coating thickness with optical methods Тестирование материалов для технологии полупроводников - Методы характеристики фотофоточувствительных материалов - Часть 1: Определение толщины покрытия оптическими методами PDF DIN 50455-2-1999 Testing of materials for semiconductor technology - Methods for the characterisation photoresists - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists Тестирование материалов для технологии полупроводников - Методы характеристики фотофоточувствительных материалов - Часть 2: Определение фоточувствительности положительных фотофоточувствительных материалов PDF DIN 50456-3-1999 Characterization of encapsulating compounds for electronic components used in semiconductor technology - Part 3: Determination of cationic impurities Характеризация защитных композиций для электронных компонентов, используемых в технологии полупроводников - Часть 3: Определение катионных примесей