496246962 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN EN 60191-6-2-2002 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-2: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-2: Общие правила подготовки чертежей обводов корпусов поверхностно монтируемых полупроводниковых устройств

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
DIN EN 60191-6-2-2002 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-2: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-2: Общие правила подготовки чертежей обводов корпусов поверхностно монтируемых полупроводниковых устройств
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN EN 60191-6-2-2002» представляет собой стандарт, касающийся механической стандартизации полупроводниковых устройств, в частности, правил подготовки контурных чертежей для пакетов поверхностного монтажа. Основное его назначение заключается в обеспечении совместимости изделий и оптимизации их проектирования, что особенно актуально в области электроники. Стандарт применяется производителями полупроводниковых компонентов, разработчиками и проектировщиками, а также организациями, занимающимися контролем качества.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми в документе, являются методы подготовки чертежей и требования к формам пакетов, включая параметры размеров и допусков. Стандарт задает требования к изображению элементов, обеспечивает четкую идентификацию размеров и форм, способствуя улучшению процесса разработки и последующего производства. Важным является использование единообразных обозначений и терминологии при подготовке документации, что существенно упрощает взаимодействие между различными участниками разработки.

Технические детали, охватываемые стандартом, включают условия испытаний, классификации пакетов, измеряемые величины и допустимые пределы. Например, указываются методы измерения размеров и проверка геометрии пакета, которые должны проводиться в соответствии с установленными требованиями. Это важно для гарантии работоспособности и надежности полупроводниковых устройств в конечных продуктах.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводников, лаборатории по испытаниям и сертификации, а также контролирующие органы, заинтересованные в соблюдении технических регламентов и стандартов. Данный стандарт служит основой для стандартизации процессов в области разработки и производства полупроводниковых компонентов, обеспечивая единый подход к выполнению требований безопасности и качества.

Практическое значение стандарта выражается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых устройств. Стандартизация параметров упаковки обеспечивает совместимость компонентов, что критично для проектирования сложных электронных систем. В документации также отражены изменения и дополнения, касающиеся обновленных требований к размерам и характеристикам, что еще больше улучшает понятность и применимость стандартов в производственной практике.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN EN 60191-6-19-2010 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-19: Measurement methods of the package warpage at elevated temperature and the maximum permissible warpage (IEC 60191-6-19:2010) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-19: Методы измерения деформации корпуса при повышенной температуре и максимально допустимой деформации (IEC 60191-6-19:2010) PDF DIN EN 60191-6-18-2010 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-18: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for ball grid array (BGA) (IEC 60191-6-18:2010 + Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-18: Общие правила подготовки чертежей обводов корпусов поверхностно монтируемых полупроводниковых устройств - Руководство по проектированию корпусов массива шариков (BGA) (IEC 60191-6-18:2010 + PDF DIN EN 60191-6-17-2011 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-17: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for stacked packages - Fine-pitch ball grid array Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-17: Общие правила подготовки чертежей обводов корпусов поверхностно монтируемых полупроводниковых устройств - Руководство по проектированию многослойных корпусов - Тонкопечатные массивы шариков PDF DIN EN 60191-6-20-2011 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-20: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Measuring methods for package dimensions of small outline J-le Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-20: Общие правила подготовки чертежей обводов корпусов поверхностно монтируемых полупроводниковых устройств - Методы измерения размеров корпусов малых корпусов J-le PDF DIN EN 60191-6-21-2011 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-21: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Measuring methods for package dimensions of small outline pack Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-21: Общие правила подготовки чертежей обводов корпусов поверхностно монтируемых полупроводниковых устройств - Методы измерения размеров корпусов малых корпусов PDF DIN EN 60191-6-22-2013 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-22: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for semiconductor packages Silicon Fine-pitch Bal Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-22: Общие правила подготовки чертежей обводов корпусов поверхностно монтируемых полупроводниковых устройств - Руководство по проектированию корпусов полупроводниковых устройств Силиконовые тонкопечатные соединения