496246956 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN EN 60191-6-17-2011 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-17: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for stacked packages - Fine-pitch ball grid array Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-17: Общие правила подготовки чертежей обводов корпусов поверхностно монтируемых полупроводниковых устройств - Руководство по проектированию многослойных корпусов - Тонкопечатные массивы шариков

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
DIN EN 60191-6-17-2011 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-17: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for stacked packages - Fine-pitch ball grid array Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-17: Общие правила подготовки чертежей обводов корпусов поверхностно монтируемых полупроводниковых устройств - Руководство по проектированию многослойных корпусов - Тонкопечатные массивы шариков
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN EN 60191-6-17-2011» представляет собой стандарт, касающийся механической стандартизации полупроводниковых устройств. Он охватывает общие правила подготовки контурных чертежей для пакетов с поверхностным монтажом, в частности, для стекованных пакетов с технологией тонкощиповых шариковых сеток. Основное назначение данного стандарта заключается в обеспечении единообразия в проектировании и изготовлении таких пакетов, что способствует повышению качества и безопасности полупроводниковых устройств.

Ключевыми регламентируемыми аспектами документа являются методы и параметры, необходимые для правильного проектирования и производства пакетов, а также требования к их характеристикам. В частности, описываются процедуры, которые необходимо соблюдать для достижения стандартов качества и совместимости между различными производителями. Эти требования помогают избежать проблем, связанных с установкой и эксплуатацией полупроводниковых устройств, а также обеспечивают их надежность в работе.

Стандарт также включает важные технические детали, касающиеся условий испытаний, классификации и измеряемых величин. Он описывает, как проводить испытания на прочность, электрическую совместимость и другие критически важные параметры. Эти аспекты являются решающими для понимания характеристик пакетов и их поведения в различных условиях эксплуатации, что особенно актуально для производителей, лабораторий и контролирующих органов.

Целевая аудитория данного документа включает производителей полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории, а также организации, занимающиеся контролем качества и сертификацией. Стандарт предоставляет профессионалам необходимые инструменты и знания для эффективной работы в данной области. Его применение способствует улучшению процесса разработки и производства, что непосредственно влияет на конечный продукт.

Практическое значение стандарта проявляется в его влиянии на безопасность, качество и совместимость полупроводниковых устройств. Соблюдение данных регламентов помогает минимизировать риски, связанные с эксплуатацией, и повышает уровень доверия со стороны конечных пользователей. Применение стандарта способствует не только улучшению качества продукции, но и созданию более безопасной рабочей среды.

В документе были внесены изменения и дополнения, которые касаются уточнения требований и методик испытаний. Эти обновления направлены на адаптацию к современным технологиям и потребностям рынка, что делает стандарт более актуальным и соответствующим требованиям современного производства. В конечном итоге эти изменения способствуют более высокому уровню надежности и эффективности полупроводниковых устройств.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN EN 60191-6-16 E-2013 PDF DIN EN 60191-6-16-2007 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-16: Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA (IEC 60191-6-16:2007) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-16: Словарь тестов полупроводниковых устройств и сокетов для BGA, LGA, FBGA и FLGA (IEC 60191-6-16:2007) PDF DIN EN 60191-6-13 E-2013 PDF DIN EN 60191-6-18-2010 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-18: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for ball grid array (BGA) (IEC 60191-6-18:2010 + Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-18: Общие правила подготовки чертежей обводов корпусов поверхностно монтируемых полупроводниковых устройств - Руководство по проектированию корпусов массива шариков (BGA) (IEC 60191-6-18:2010 + PDF DIN EN 60191-6-19-2010 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-19: Measurement methods of the package warpage at elevated temperature and the maximum permissible warpage (IEC 60191-6-19:2010) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-19: Методы измерения деформации корпуса при повышенной температуре и максимально допустимой деформации (IEC 60191-6-19:2010) PDF DIN EN 60191-6-2-2002 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-2: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-2: Общие правила подготовки чертежей обводов корпусов поверхностно монтируемых полупроводниковых устройств