496246958 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN EN 60191-6-18-2010 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-18: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for ball grid array (BGA) (IEC 60191-6-18:2010 + Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-18: Общие правила подготовки чертежей обводов корпусов поверхностно монтируемых полупроводниковых устройств - Руководство по проектированию корпусов массива шариков (BGA) (IEC 60191-6-18:2010 +

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
DIN EN 60191-6-18-2010 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-18: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for ball grid array (BGA) (IEC 60191-6-18:2010 + Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-18: Общие правила подготовки чертежей обводов корпусов поверхностно монтируемых полупроводниковых устройств - Руководство по проектированию корпусов массива шариков (BGA) (IEC 60191-6-18:2010 +
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN EN 60191-6-18-2010» посвящён механической стандартизации полупроводниковых устройств, в частности, разработке общих правил для подготовки контурных чертежей упаковок полупроводниковых устройств, монтируемых на поверхности, с акцентом на проектирование упаковок типа Ball Grid Array (BGA). Основное назначение данного стандарта заключается в обеспечении единых подходов к оформлению чертежей и технической документации, что содействует совместимости и упрощению производственных процессов в данной области.

Ключевыми аспектами, регулируемыми данным документом, являются методы и параметры, необходимые для создания точных чертежей упаковок BGA. Стандарт описывает требования к размерам, размещению отводов, спецификациям материалов и другим критически важным компонентам. Также он содержит рекомендации по учёту различных условий эксплуатации и монтажу, что позволяет производить упаковки с высокой степенью надежности и качества.

Среди важных технических деталей следует отметить условия испытаний, которые должны быть проведены для подтверждения соответствия упаковок требованиям стандарта. В документе также могут присутствовать классификации упаковок по различным критериям, что упрощает их идентификацию и применение в производстве. Измеряемые величины, такие как точность размеров и механические свойства, играют важную роль при анализе качества конечной продукции.

Целевая аудитория стандарта охватывает производителей полупроводниковых устройств, научные лаборатории, а также контролирующие органы, что свидетельствует о его широком использовании в отрасли. Использование данного документа способствует повышению уровня безопасности, качества и совместимости полупроводниковых устройств, что немаловажно для удовлетворения растущих требований рынка и потребителей.

Наличие изменений или дополнений к данному стандарту, если таковые имеются, может касаться уточнения методик испытаний или адаптации к новым технологическим условиям. Эти изменения направлены на обеспечение более точного соблюдения требований и улучшение характеристик упаковок. В итоге, стандарт имеет практическое значение для всех участников процесса разработки и производства полупроводниковых устройств, способствуя их эволюции и повышению надежности.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN EN 60191-6-17-2011 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-17: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for stacked packages - Fine-pitch ball grid array Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-17: Общие правила подготовки чертежей обводов корпусов поверхностно монтируемых полупроводниковых устройств - Руководство по проектированию многослойных корпусов - Тонкопечатные массивы шариков PDF DIN EN 60191-6-16 E-2013 PDF DIN EN 60191-6-16-2007 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-16: Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA (IEC 60191-6-16:2007) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-16: Словарь тестов полупроводниковых устройств и сокетов для BGA, LGA, FBGA и FLGA (IEC 60191-6-16:2007) PDF DIN EN 60191-6-19-2010 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-19: Measurement methods of the package warpage at elevated temperature and the maximum permissible warpage (IEC 60191-6-19:2010) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-19: Методы измерения деформации корпуса при повышенной температуре и максимально допустимой деформации (IEC 60191-6-19:2010) PDF DIN EN 60191-6-2-2002 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-2: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-2: Общие правила подготовки чертежей обводов корпусов поверхностно монтируемых полупроводниковых устройств PDF DIN EN 60191-6-20-2011 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-20: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Measuring methods for package dimensions of small outline J-le Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-20: Общие правила подготовки чертежей обводов корпусов поверхностно монтируемых полупроводниковых устройств - Методы измерения размеров корпусов малых корпусов J-le