Top.Mail.Ru
ASTM — страница 217 | Информпроект Групп

Каталог документов

ASTM

Стандарты ASTM из раздела международных и зарубежных документов.

Перейти к документам

Картотека

Документы раздела

Страница 217 · Показано документов: 20

  1. ASTM

    ASTM F95-1989 Standard Test Method for Thickness of Lightly Doped Silicon Epitaxial Layers on Heavily Doped Silicon Substrates Using an Infrared Dispersive Spectrophotometer Стандарт метода испытаний для толщины слоев слабо легированных кремниевых эпитаксиальных слоев на сильно легированных кремниевых подложках с использованием инфракрасного дисперсионного спектрофотометра

    НД 816837109