Top.Mail.Ru
ASTM — страница 351 | Информпроект Групп
Продукты и решения
Нормативная база
Для специалистов
Сервисное сопровождение
О компании
Для дистрибьюторов
Технологии
Пресс-центр
Отзывы
Контакты
8-800-555-01-33
Звонок по России бесплатный
Более 25 000 000 актуальных правовых
и нормативно-технических документов
Найти документ

Каталог документов

ASTM

Стандарты ASTM из раздела международных и зарубежных документов.

Перейти к документам

Картотека

Документы раздела

Страница 351 · Показано документов: 20

  2. ASTM

    ASTM F1393-2002 Standard Test Method for Determining Net Carrier Density in Silicon Wafers by Miller Feedback Profiler Measurements with a Mercury Probe Метод испытаний стандарта для определения плотности носителей заряда в кремниевых пластинах с помощью измерений с помощью милиеровского фидбэка с использованием зонда из ртути

    НД 816831759

  3. ASTM

    ASTM F1392-2002 Standard Test Method for Determining Net Carrier Density Profiles in Silicon Wafers by Capacitance-Voltage Measurements With a Mercury Probe Метод испытаний стандарта для определения профилей плотности носителей заряда в кремниевых пластинах с помощью измерений емкость-напряжение с использованием зонда из ртути

    НД 816831757

  8. ASTM

    ASTM F1388-1992 (R 2000) Standard Test Method for Generation Lifetime and Generation Velocity of Silicon Material by Capacitance-Time Measurements of Metal-Oxide-Silicon (MOS) Capacitors Метод испытаний стандарта для определения времени жизни и скорости генерации кремниевых материалов с помощью измерений емкость-время металлооксидного кремниевого (MOS) конденсатора

    НД 816831747