Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS EN 62047-20-2014

Название документа
BS EN 62047-20-2014
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS EN 62047-20-2014» представляет собой стандарт, разработанный для определения методов и параметров оценки наноэлектронных устройств, таких как МЕМС (микроэлектромеханические системы). Основное назначение документа заключается в обеспечении единообразия подходов к испытаниям и требованиям, что обеспечивает адекватную совместимость и безопасность приборов. Стандарт применяется в различных отраслях, включая электронику, автомобилестроение и ряд новых технологий, где требуется высокий уровень точности и надежности.

Ключевые регламентируемые аспекты стандарта охватывают методы измерений, параметры выборки и требования к категории материалов, используемых в изготовлении наноэлектронных структур. Документ описывает процедуры испытаний в относительных условиях, включая требования к температурным диапазонам и влажности, что критично для предотврашения повреждений компонентов. Также указаны классификации различных типов наноэлектронных устройств по их функциональным характеристикам.

Важные технические детали включают описания измеряемых величин, таких как механическая прочность, устойчивость к внешним воздействиям и электромагнитные характеристики. Стандарт учитывает условия испытаний и описывает необходимые инструменты и методы контроля качества, включая использование специализированного оборудования для точного анализа работы наноэлектронных систем. Эти детали помогают обеспечить надежность итоговых продуктов и снизить вероятность некорректной работы устройств в реальных условиях.

Целевая аудитория стандарта включает производителей наноэлектронных устройств, лаборатории, занимающиеся испытаниями, а также контролирующие органы, ответственные за соблюдение качественных стандартов. Все лица, участвующие в разработке или проверке такой технологии, получат от него значительные преимущества, включая более точные данные о производительности продукции и улучшение процессов контроля качества.

Практическое значение стандарта «BS EN 62047-20-2014» заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость наноэлектронных устройств. Стандарт помогает предотвратить потенциальные риски, связанные с использованием нестандартных или незаслуженно сертифицированных компонентов, что может повысить общую безопасность и удовлетворённость потребителей. Он также способствует улучшению охраны труда за счёт более эффективных методов испытаний и контроля.

Документ был обновлён для учёта новых технологических достижений и изменений в практиках испытаний, что делает его актуальным для современных производителей. Изменения касаются как введения новых параметров, так и пересмотра существующих методик оценки, что, в свою очередь, способствует повышению общей надежности систем и устройств.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF BS EN 62047-2-2006 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Part 2: Tensile testing method of thin film materials Полупроводниковые устройства Микроэлектромеханические устройства Часть 2: Метод испытания на растяжение материалов тонких пленок PDF DS DS/EN 62047-19-2013 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 19: Electronic compasses Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 19: Электронные компасы PDF BS EN 62047-18-2013 Semiconductor devices — Micro-electromechanical devices Part 18: Bend testing methods of thin film materials Полупроводниковые устройства — Микроэлектромеханические устройства Часть 18: Методы изгиба тонких пленок PDF BS EN 62047-21-2014 Semiconductor devices — Micro-electromechanical devices Part 21: Test method for Poisson’s ratio of thin film MEMS materials Полупроводниковые устройства — Микроэлектромеханические устройства Часть 21: Метод испытаний для коэффициента Пуассона тонких плёнок материалов МЭМС PDF BS EN 62047-22-2014 Semiconductor devices — Micro-electromechanical devices Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates Полупроводниковые устройства — Микроэлектромеханические устройства Часть 22: Метод электромеханического испытания на растяжение для тонких пленок на гибких субстратах PDF BS EN 62047-25-2016 Semiconductor devices — Micro-electromechanical devices Part 25: Silicon based MEMS fabrication technology — Measurement method of pull-press and shearing strength of micro bonding area Полупроводниковые устройства — Микроэлектромеханические устройства Часть 25: Технология изготовления МЭМС на основе кремния — Метод измерения сжато-растягивающей и сдвиговой прочности микросвязи