Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60191-6-18-2010 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-18: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages – Design guide for ball grid array (BGA) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-18: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств – Руководство по проектированию корпусов с сеткой контактов (BGA)

Название документа
IEC 60191-6-18-2010 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-18: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages – Design guide for ball grid array (BGA) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-18: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств – Руководство по проектированию корпусов с сеткой контактов (BGA)
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60191-6-18-2010» посвящен механической стандартизации полупроводниковых устройств и является частью серии стандартов, регулирующих подготовку контурных чертежей для упаковки полупроводниковых изделий с поверхностным монтажом. Основное назначение данного документа заключается в предоставлении рекомендаций по проектированию упаковок типа Ball Grid Array (BGA), что является важным аспектом для производителей, стремящихся обеспечить высокое качество и надежность своих изделий.

Ключевыми аспектами, регулируемыми в данном стандарте, являются требования к размерам, размещению выводов, а также материалам, используемым в производстве пакетов BGA. В документе представлены методы, параметры, а также требования к оформлению чертежей, что способствует унификации в области проектирования и производства полупроводниковых устройств. Кроме того, четко описаны процедуры, которые должны соблюдаться для достижения необходимого уровня качества.

Важными техническими деталями, освещаемыми в документе, являются условия испытаний упаковок BGA, а также классификации, которые помогают понимать, какие измеряемые параметры необходимо контролировать на всех этапах производства. Стандарт также устанавливает требуемые характеристики для обеспечивания правильной работы упаковок, включая механическую прочность и соответствие термическим свойствам.

Целевой аудиторией данного стандарта являются производители полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории, а также органы, ответственные за контроль и оценку качества данными технологиями. Взаимодействие между этими группами существенно улучшает процессы разработки и внедрения новых технологий, что в конечном итоге влияет на безопасность и эффективность конечных продуктов.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на качество и безопасность полупроводниковых устройств. Соблюдение регламентируемых в нем требований способствует улучшению совместимости устройств, а также снижению рисков, связанных с эксплуатацией электроники. Данный стандарт также может быть полезен в контексте охраны труда, обеспечивая более безопасные и эргономичные условия работы при производстве полупроводниковых изделий.

Отметим, что в последующих версиях стандарта могут быть внесены изменения, касающиеся более современных требований к упаковке BGA, что позволит руководствоваться актуальными данными в быстро развивающейся отрасли полупроводников. Важно, чтобы участники рынка регулярно отслеживали изменения и дополнения к стандарту для обеспечения максимальной конкурентоспособности и соблюдения актуальных норм.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60191-6-18-2010 cor2-2010 IEC 60191-6-18-2010 cor2-2010 PDF IEC 60191-6-18-2010 cor1-2010 IEC 60191-6-18-2010 cor1-2010 PDF IEC 60191-6-17-2011 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-17: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages – Design guide for stacked packages – Fine-pitch ball grid array an Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-17: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно монтируемых полупроводниковых корпусов – Руководство по проектированию стекающих корпусов – Мелкопорционный шаровый массив PDF IEC 60191-6-19-2010 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-19: Measurement methods of the package warpage at elevated temperature and the maximum permissible warpage Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-19: Методы измерения деформации корпуса при повышенной температуре и максимально допустимой деформации корпуса PDF IEC 60191-6-2-2001 cor1-2002 IEC 60191-6-2-2001 cor1-2002 PDF IEC 60191-6-2-2001 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-2: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor devices packages - Design guide for 1,50 mm, 1,27 mm and 1,00 mm pitch ball and colum Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-2: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств - Руководство по проектированию корпусов с шагом 1,50 мм, 1,27 мм и 1,00 мм для шаровых и колонных выводов