Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60191-6-17-2011 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-17: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages – Design guide for stacked packages – Fine-pitch ball grid array an Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-17: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно монтируемых полупроводниковых корпусов – Руководство по проектированию стекающих корпусов – Мелкопорционный шаровый массив

Название документа
IEC 60191-6-17-2011 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-17: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages – Design guide for stacked packages – Fine-pitch ball grid array an Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-17: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно монтируемых полупроводниковых корпусов – Руководство по проектированию стекающих корпусов – Мелкопорционный шаровый массив
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60191-6-17:2011» представляет собой стандарт, касающийся механической стандартизации полупроводниковых устройств. Он акцентирует внимание на общем правиле подготовки контурных чертежей пакетов полупроводниковых устройств с поверхностным монтажа. Основное назначение стандарта заключается в предоставлении руководств по проектированию стеклянных пакетов, что особенно актуально для технологий, использующих тонкие шариковые решётки (fine-pitch ball grid arrays).

Стандарт регулирует методы, параметры и требования, которые должны быть соблюдены в процессе проектирования и изготовления упомянутых пакетов. Важные аспекты включают детализированные указания по размерам, расположению выводов и контактных площадок, а также методам испытаний, которые обеспечивают соответствие установленным нормам. Все эти регламентируемые параметры помогают гарантировать высокое качество и надёжность полупроводниковых решений в конечных продуктах.

Ключевыми техническими деталями, затронутыми в документе, являются условия испытаний, классификации пакетов, а также измеряемые величины, такие как электрические и механические характеристики. Кроме того, документ определяет стандарты для условий, при которых должны проводиться тесты, обеспечивая тем самым согласованность результатов и их повторяемость в различных лабораторных условиях.

Целевая аудитория этого стандарта охватывает производителей полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории и контролирующие органы, которые занимаются сертификацией и тестированием подобных решений. Эти группы заинтересованы в обеспечении качества и долговечности своей продукции, а также в выполнении мировых стандартов, что и делает данный документ важным инструментом для отрасли.

Практическое значение стандарта проявляется в его влиянии на безопасность, качество и совместимость полупроводниковых устройств, что критически важно для их применения в различных областях, таких как автомобилестроение, медтехника и потребительская электроника. Соблюдение данного стандарта способствует также улучшению условий труда и охраны окружающей среды, что становится все более актуально с ростом требований к экологической ответственности производителей. Обновления в стандарте касаются, в основном, уточнения методов проектирования и испытаний, что позволяет обеспечить более точное соответствие современным технологическим требованиям.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60191-6-16-2007 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-16: Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-16: Словарь тестов полупроводниковых устройств и сокетов для BGA, LGA, FBGA и FLGA PDF IEC 60191-6-13-2016 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-13: Design guideline of open-top-type sockets for Fine-pitch Ball Grid Array (FBGA) and Fine-pitch Land Grid Array (FLGA) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-13: Руководство по проектированию сокетов открытого типа для мелкопорционного шарового массива (FBGA) и мелкопорционного ландшафтного массива (FLGA) PDF IEC 60191-6-12-2011 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-12: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages – Design guidelines for fine-pitch land grid array (FLGA) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-12: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно монтируемых полупроводниковых корпусов – Руководства по проектированию мелкопорционного ландшафтного массива (FLGA) PDF IEC 60191-6-18-2010 cor1-2010 IEC 60191-6-18-2010 cor1-2010 PDF IEC 60191-6-18-2010 cor2-2010 IEC 60191-6-18-2010 cor2-2010 PDF IEC 60191-6-18-2010 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-18: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages – Design guide for ball grid array (BGA) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-18: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств – Руководство по проектированию корпусов с сеткой контактов (BGA)