Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60191-6-16-2007 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-16: Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-16: Словарь тестов полупроводниковых устройств и сокетов для BGA, LGA, FBGA и FLGA

Название документа
IEC 60191-6-16-2007 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-16: Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-16: Словарь тестов полупроводниковых устройств и сокетов для BGA, LGA, FBGA и FLGA
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60191-6-16-2007 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-16: Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA» представляет собой стандарт, определяющий термины и определения, касающиеся тестов полупроводниковых устройств и сокетов для прогрева. Его основное назначение заключается в упрощении понимания и упорядочивании терминологии, используемой в области полупроводников, что способствует повышению ясности и согласованности в документации и техническом взаимодействии.

Сфера применения данного документа охватывает производителей полупроводниковых компонентов, лаборатории, а также организации, занимающиеся выполнением тестирования и контроля качества. Стандарт устанавливает ключевые регламентируемые аспекты, такие как методы тестирования, параметры обработки, требования к условиям испытаний и процедуры, которые должны соблюдаться для обеспечения надежности и функциональности изделий.

Важные технические детали включают классификацию различных типов сокетов, таких как BGA, LGA, FBGA и FLGA, а также измеряемые величины, которые могут включать электрические характеристики и механические параметры. Условия испытаний, описанные в документе, обеспечивают создание атмосферных условий, соответствующих реальным условиям эксплуатации, что позволяет получить воспроизводимые результаты.

Целевая аудитория стандарта состоит из производителей, исследовательских и испытательных лабораторий, а также контролирующих органов, заинтересованных в обеспечении соответствия полупроводниковых устройств установленным требованиям безопасности и качества. Стандарт играет важную роль в процессе разработки и производства полупроводниковых компонентов, гарантируя соблюдение высоких стандартов безопасности и функциональности.

Практическое значение стандарта заключается в его вкладе в повышение качества продукции, улучшение охраны труда и совместимости различных систем. Стандарт также помогает снизить риск аварий и неисправностей, что является важным аспектом в условиях высоких технологических требований. В заключение, изменения или дополнения, внесенные в данный документ, сосредоточены на уточнении терминологии и методов, что способствует улучшению взаимодействия между различными заинтересованными сторонами в области полупроводниковых технологий.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60191-6-13-2016 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-13: Design guideline of open-top-type sockets for Fine-pitch Ball Grid Array (FBGA) and Fine-pitch Land Grid Array (FLGA) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-13: Руководство по проектированию сокетов открытого типа для мелкопорционного шарового массива (FBGA) и мелкопорционного ландшафтного массива (FLGA) PDF IEC 60191-6-12-2011 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-12: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages – Design guidelines for fine-pitch land grid array (FLGA) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-12: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно монтируемых полупроводниковых корпусов – Руководства по проектированию мелкопорционного ландшафтного массива (FLGA) PDF IEC 60191-6-10-2003 Mechanical standardization of semiconductor devices Part 6-10: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages Dimensions of P-VSON Механическая стандартизация полупроводниковых устройств Часть 6-10: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно монтируемых полупроводниковых корпусов Размеры P-VSON PDF IEC 60191-6-17-2011 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-17: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages – Design guide for stacked packages – Fine-pitch ball grid array an Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-17: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно монтируемых полупроводниковых корпусов – Руководство по проектированию стекающих корпусов – Мелкопорционный шаровый массив PDF IEC 60191-6-18-2010 cor1-2010 IEC 60191-6-18-2010 cor1-2010 PDF IEC 60191-6-18-2010 cor2-2010 IEC 60191-6-18-2010 cor2-2010