Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60191-6-12-2011 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-12: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages – Design guidelines for fine-pitch land grid array (FLGA) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-12: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно монтируемых полупроводниковых корпусов – Руководства по проектированию мелкопорционного ландшафтного массива (FLGA)

Название документа
IEC 60191-6-12-2011 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-12: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages – Design guidelines for fine-pitch land grid array (FLGA) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-12: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно монтируемых полупроводниковых корпусов – Руководства по проектированию мелкопорционного ландшафтного массива (FLGA)
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60191-6-12-2011» описывает общие правила подготовки рисунков упаковки полупроводниковых устройств, а именно проектирование для упаковки с мелким шагом (FLGA). Этот стандарт служит основным руководством для производителей и проектировщиков, стремящихся к оптимизации разработки и производству полупроводниковых компонентов, обеспечивая соответствие международным стандартам.

Ключевыми аспектами документа являются методы и параметры, регулирующие черчение и спецификации упаковки FLGA. Стандарт описывает требования к размерам, структуре и условию представления пакетов, а также последовательность шагов в процессе проектирования. Он включает в себя как общие рекомендации, так и специфические требования, чтобы гарантировать четкость и однозначность представления информации.

Важные технические детали документа касаются условий испытаний и классификации упаковок, включая измеряемые величины, такие как размеры, толщина и плотность контактов. Эти параметры необходимы для обеспечения согласованности в производственном процессе и минимизации ошибок, что является критически важным для функциональности и надежности полупроводниковых устройств в конечных применениях.

Целевой аудиторией стандарта являются производители полупроводниковых компонентов, испытательные лаборатории, а также контролирующие органы, которые отвечают за соблюдение и сертификацию продукции. Стандарт предлагает им инструменты и ресурсы для повышения качества и безопасности полупроводниковых устройств, обеспечивая соответствие требованиям отрасли.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость полупроводниковых упаковок. Стандарт化ция процессов проектирования и производства способствует повышению надежности конечного продукта и упрощает механизм сертификации. В документе также указаны изменения, касающиеся новых технологий и методов, что позволяет поддерживать актуальность и соответствие современным требованиям рынка электроники.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60191-6-10-2003 Mechanical standardization of semiconductor devices Part 6-10: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages Dimensions of P-VSON Механическая стандартизация полупроводниковых устройств Часть 6-10: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно монтируемых полупроводниковых корпусов Размеры P-VSON PDF IEC 60191-6-1-2001 Mechanical Standardization of Semiconductor Devices - Part 6-1: General Rules for the Preparation of Outline Drawings of Surface Mounted Semiconductor Device Packages - Design Guide for Gull-Wing Lead Terminals Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-1: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно монтируемых полупроводниковых корпусов - Руководство по проектированию клювовых выводов PDF IEC 60191-5-1997 Mechanical Standardization of Semiconductor Devices - Part 5: Recommendations Applying to Integrated Circuit Packages Using Tape Automated Bonding (TAB) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 5: Рекомендации, применяемые к корпусам интегральных схем с использованием ленточной автоматической пайки (TAB) PDF IEC 60191-6-13-2016 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-13: Design guideline of open-top-type sockets for Fine-pitch Ball Grid Array (FBGA) and Fine-pitch Land Grid Array (FLGA) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-13: Руководство по проектированию сокетов открытого типа для мелкопорционного шарового массива (FBGA) и мелкопорционного ландшафтного массива (FLGA) PDF IEC 60191-6-16-2007 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-16: Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-16: Словарь тестов полупроводниковых устройств и сокетов для BGA, LGA, FBGA и FLGA PDF IEC 60191-6-17-2011 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-17: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages – Design guide for stacked packages – Fine-pitch ball grid array an Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-17: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно монтируемых полупроводниковых корпусов – Руководство по проектированию стекающих корпусов – Мелкопорционный шаровый массив