Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60191-6-13-2016 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-13: Design guideline of open-top-type sockets for Fine-pitch Ball Grid Array (FBGA) and Fine-pitch Land Grid Array (FLGA) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-13: Руководство по проектированию сокетов открытого типа для мелкопорционного шарового массива (FBGA) и мелкопорционного ландшафтного массива (FLGA)

Название документа
IEC 60191-6-13-2016 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-13: Design guideline of open-top-type sockets for Fine-pitch Ball Grid Array (FBGA) and Fine-pitch Land Grid Array (FLGA) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-13: Руководство по проектированию сокетов открытого типа для мелкопорционного шарового массива (FBGA) и мелкопорционного ландшафтного массива (FLGA)
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60191-6-13-2016» представляет собой стандарт, касающийся механической стандартизации полупроводниковых устройств, в частности, разработки рекомендаций по открытым разъемам типа FBGA (Fine-pitch Ball Grid Array) и FLGA (Fine-pitch Land Grid Array). Этот стандарт применяется в производстве электроники и предоставляет важные ориентиры для проектирования и изготовления сокетов, которые обеспечивают надежное соединение компонентов.

Основное внимание в документе уделяется регламентированию методов проектирования, параметров и требований к сокетам FBGA и FLGA. Стандарт включает требования по размеру, форме и материалам сокетов, а также описывает процедуры тестирования для оценки их механических и электрических характеристик. Это обеспечивает консистентность и надежность сокетов в различных приложениях, таких как мобильные устройства и вычислительная техника.

Важные технические детали документа касаются условий испытаний и классификаций, включая максимальные и минимальные допустимые значения для различных размеров и нагрузок. Стандарт уточняет измеряемые величины, такие как прочность, надежность соединений и устойчивость к механическим воздействиям. Эти параметры критически важны для обеспечения долговечности и производительности полупроводниковых устройств.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых компонентов, лаборатории по тестированию продукции и контролирующие органы. Стандарт служит надежным руководством для инженеров и специалистов, работающих в области проектирования и тестирования электронных систем. Он помогает гарантировать, что продукция соответствует современным требованиям качества и безопасности.

Практическое значение стандарта лежит в его влиянии на безопасность, качество и совместимость электронных компонентов. Строгое следование этому документу способствует улучшению условий труда и безопасности на производственных площадках за счет снижения вероятности неисправностей и повышения надежности соединений. В последних версиях документа были уточнены параметры испытаний и рекомендации по материалам, что делает стандарт более актуальным для современных технологий в области электроники.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60191-6-12-2011 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-12: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages – Design guidelines for fine-pitch land grid array (FLGA) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-12: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно монтируемых полупроводниковых корпусов – Руководства по проектированию мелкопорционного ландшафтного массива (FLGA) PDF IEC 60191-6-10-2003 Mechanical standardization of semiconductor devices Part 6-10: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages Dimensions of P-VSON Механическая стандартизация полупроводниковых устройств Часть 6-10: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно монтируемых полупроводниковых корпусов Размеры P-VSON PDF IEC 60191-6-1-2001 Mechanical Standardization of Semiconductor Devices - Part 6-1: General Rules for the Preparation of Outline Drawings of Surface Mounted Semiconductor Device Packages - Design Guide for Gull-Wing Lead Terminals Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 6-1: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно монтируемых полупроводниковых корпусов - Руководство по проектированию клювовых выводов PDF IEC 60191-6-16-2007 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-16: Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-16: Словарь тестов полупроводниковых устройств и сокетов для BGA, LGA, FBGA и FLGA PDF IEC 60191-6-17-2011 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-17: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages – Design guide for stacked packages – Fine-pitch ball grid array an Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-17: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно монтируемых полупроводниковых корпусов – Руководство по проектированию стекающих корпусов – Мелкопорционный шаровый массив PDF IEC 60191-6-18-2010 cor1-2010 IEC 60191-6-18-2010 cor1-2010