IEC 60444-2-1980 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters by Zero Phase Technique in a PI-Network Part 2: Phase Offset Method for Measurement of Motional Capacitance of Quartz Crystal Units

Название документа

Вид документа

Принявший орган

Статус

Скрыто

Дата принятия

Скрыто

Дата начала действия

Скрыто

Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.

Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.

Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.

Возможно вас заинтересуют

IEC 60444-11-2010 Measurement of quartz crystal unit parameters – Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency fL and the effective load capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques and error correction -

IEC 60444-1-1986 Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 1: Basic method for the measurement of resonance frequency and resonance resistance of quartz crystal units by zero phase technique in a pi-netwo

IEC 60444-1-1986 amd1-1999

IEC 60444-5-1995 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters - Part 5: Methods for the Determination of Equivalent Electrical Parameters Using Automatic Network Analyzer Techniques and Error Correction

IEC 60444-6-2021 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)

IEC 60444-7-2004 Measurement of quartz crystal unit parameters . Part 7: Measurement of activity and frequency dips of quartz crystal units