496019157 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 62047-1-2016 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 1: Terms and definitions Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 1: Термины и определения

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 62047-1-2016 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 1: Terms and definitions Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 1: Термины и определения
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 62047-1-2016» представляет собой международный стандарт, который определяет основные термины и определения в области полупроводниковых микромеханических устройств (MEMS). Его основное назначение заключается в унификации терминологии, используемой в данной области, что способствует улучшению понимания и взаимодействия между производителями, лабораториями и контролирующими органами. Стандарт применим ко всем аспектам разработки, производства и испытаний микромеханических устройств, применяемых в различных секторах, включая автомобильную, медицинскую и потребительскую электронику.

Ключевые регламентируемые аспекты включают определения методов, параметров и требований к тестированию микромеханических устройств. Стандарт описывает процедуры испытаний, включая условия, при которых проводятся измерения, а также классификации, позволяющие определить качество и функциональность устройств. Важные параметры могут включать ускорение, давление и температурные характеристики, которые необходимы для оценки производительности устройств в реальных условиях эксплуатации.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей, исследовательские лаборатории, а также регулирующие органы, ответственное за контроль качества полупроводниковых технологий. Упрощение взаимопонимания и точного использования терминологии в рамках данной аудитории способствует уменьшению ошибок и улучшению качества продукции, что в конечном итоге влияет на безопасность и надежность микромеханических устройств.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, совместимость и качество микромеханических устройств, а также на охрану труда при их использовании. Соблюдение данного стандарта подразумевает обеспечение более высокого уровня защиты для конечных пользователей, а также упрощение процессов сертификации и магнитной совместимости устройств. Изменения в документе «IEC 62047-1-2016» касаются уточнений терминологии и удаления устаревших определений, что делает стандарт более актуальным.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 62046-2018 Safety of machinery - Application of protective equipment to detect the presence of persons Безопасность машин – Применение средств защиты для обнаружения присутствия людей PDF IEC 62044-3-2000 Cores Made of Soft Magnetic Materials - Measuring Methods - Part 3: Magnetic Properties at High Excitation Level Ядра из мягких магнитных материалов – Методы измерения – Часть 3: Магнитные свойства при высоком уровне возбуждения PDF IEC 62044-3-2000 cor1-2021 IEC 62044-3-2000 cor1-2021 PDF IEC 62047-10-2011 cor1-2012 IEC 62047-10-2011 cor1-2012 PDF IEC 62047-10-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 10: Тест сжатия микропалочки для материалов МЭМС PDF IEC 62047-11-2013 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 11: Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 11: Метод испытаний коэффициентов линейного термического расширения свободных материалов для микроэлектромеханических систем