Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
IEC 62047-10-2011 cor1-2012
Документ «IEC 62047-10-2011 cor1-2012» является важным стандартом, предназначенным для определения методов испытаний и характеристик, связанных с микросистемной техникой. Он охватывает требования к различным аспектам проектирования и производства микроэлектромеханических систем (MEMS), включая их структурные и функциональные характеристики. Стандарт устанавливает основные требования, которые производители и лаборатории должны соблюдать для обеспечения надежности и качества своих изделий.
Ключевыми аспектами документа являются описания методов измерения, параметры, которые подлежат оценке, и соответствующие процедуры. В частности, рассматриваются методы испытаний на прочность, стабильность и долговечность микросистем, а также параметры, такие как электрические и механические характеристики изделий. Эти требования гарантируют, что разработки в области MEMS соответствуют современным техническим достижениям и требованиям отрасли.
Технические детали, обсуждаемые в стандарте, охватывают условия испытаний, классификации устройств и измеряемые величины. Документ предоставляет четкие рекомендации по проведению испытаний в различных условиях, таким как температура и давление, что важно для обеспечения высоких стандартов качества и безопасности. Также рассматриваются методы калибровки и требования к оборудованию, используемому для тестирования.
Основная целевая аудитория данного стандарта включает производителей микроэлектромеханических систем, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся стандартизацией и сертификацией. Знание требований и рекомендаций этого стандарта поможет им выполнять задания в соответствии с международными нормами, что является критически важным для успешной коммерциализации технологий.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество изделий на основе MEMS. Соблюдение этих рекомендаций способствует повышению надежности и долговечности производимых устройств, а также обеспечивает их совместимость с другими системами. Внесенные изменения и дополнения в указанную редакцию стандарта включают уточнение методов испытаний и описание новых технологий, что улучшает понимание и применение документа в практической деятельности.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
Возможно вас заинтересуют
IEC 62047-1-2016 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 1: Terms and definitions
IEC 62046-2018 Safety of machinery - Application of protective equipment to detect the presence of persons
IEC 62044-3-2000 Cores Made of Soft Magnetic Materials - Measuring Methods - Part 3: Magnetic Properties at High Excitation Level
IEC 62047-10-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials
IEC 62047-11-2013 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 11: Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems
IEC 62047-12-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures