496019159 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 62047-10-2011 cor1-2012 IEC 62047-10-2011 cor1-2012

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 62047-10-2011 cor1-2012 IEC 62047-10-2011 cor1-2012
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 62047-10-2011 cor1-2012» является важным стандартом, предназначенным для определения методов испытаний и характеристик, связанных с микросистемной техникой. Он охватывает требования к различным аспектам проектирования и производства микроэлектромеханических систем (MEMS), включая их структурные и функциональные характеристики. Стандарт устанавливает основные требования, которые производители и лаборатории должны соблюдать для обеспечения надежности и качества своих изделий.

Ключевыми аспектами документа являются описания методов измерения, параметры, которые подлежат оценке, и соответствующие процедуры. В частности, рассматриваются методы испытаний на прочность, стабильность и долговечность микросистем, а также параметры, такие как электрические и механические характеристики изделий. Эти требования гарантируют, что разработки в области MEMS соответствуют современным техническим достижениям и требованиям отрасли.

Технические детали, обсуждаемые в стандарте, охватывают условия испытаний, классификации устройств и измеряемые величины. Документ предоставляет четкие рекомендации по проведению испытаний в различных условиях, таким как температура и давление, что важно для обеспечения высоких стандартов качества и безопасности. Также рассматриваются методы калибровки и требования к оборудованию, используемому для тестирования.

Основная целевая аудитория данного стандарта включает производителей микроэлектромеханических систем, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся стандартизацией и сертификацией. Знание требований и рекомендаций этого стандарта поможет им выполнять задания в соответствии с международными нормами, что является критически важным для успешной коммерциализации технологий.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество изделий на основе MEMS. Соблюдение этих рекомендаций способствует повышению надежности и долговечности производимых устройств, а также обеспечивает их совместимость с другими системами. Внесенные изменения и дополнения в указанную редакцию стандарта включают уточнение методов испытаний и описание новых технологий, что улучшает понимание и применение документа в практической деятельности.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 62047-1-2016 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 1: Terms and definitions Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 1: Термины и определения PDF IEC 62046-2018 Safety of machinery - Application of protective equipment to detect the presence of persons Безопасность машин – Применение средств защиты для обнаружения присутствия людей PDF IEC 62044-3-2000 Cores Made of Soft Magnetic Materials - Measuring Methods - Part 3: Magnetic Properties at High Excitation Level Ядра из мягких магнитных материалов – Методы измерения – Часть 3: Магнитные свойства при высоком уровне возбуждения PDF IEC 62047-10-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 10: Тест сжатия микропалочки для материалов МЭМС PDF IEC 62047-11-2013 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 11: Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 11: Метод испытаний коэффициентов линейного термического расширения свободных материалов для микроэлектромеханических систем PDF IEC 62047-12-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 12: Метод испытания усталости изгиба тонких пленок с использованием резонансных колебаний структур MEMS