Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
IEC 62047-10-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials
Документ «IEC 62047-10-2011» является стандартом, регламентирующим процедуры испытаний для микроструктурированных материалов, используемых в микроэлектромеханических системах (MEMS). Основное назначение данного документа заключается в установлении надежных методов, которые позволяют проводить компрессионные испытания микропилларов, обеспечивая точность данных о механических свойствах материалов. Стандарт охватывает применения в области разработки и производства MEMS-устройств, предлагая унифицированные подходы к тестированию, чтобы гарантировать качество и безопасность конечной продукции.
Ключевыми аспектами, регламентируемыми стандартом, являются условия проведения испытаний, параметры и измеряемые величины, используемые для определения механических свойств материалов. Стандарт описывает требования к настройке испытательного оборудования, методам сбора и анализа данных, которые необходимы для обеспечения воспроизводимости результатов. Также внимание уделяется классификации материалов и поиску оптимальных параметров, которые влияют на результаты испытаний.
Целевой аудиторией документа являются производители MEMS-техники, лаборатории, занимающиеся тестированием материалов, а также контролирующие органы и исследовательские учреждения. Стандарт служит основой для разработки и сертификации новых материалов, обеспечивая их функциональность и надежность в различных условиях эксплуатации. С помощью данного документа производители могут минимизировать риски, связанные с потенциальными дефектами в изделия, основанных на MEMS-технологиях.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции, а также на охрану труда в процессе тестирования и эксплуатации MEMS-устройств. Стандарт поддерживает соответствие материалов актуальным требованиям рынка, повышая их совместимость и предотвращая возможные аварийные ситуации. Недавние изменения в документе касаются уточнения методов испытаний и добавления новых рекомендаций по оценке механических свойств, что позволяет улучшить качество тестирования и повысить надежность результатов.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
Возможно вас заинтересуют
IEC 62047-10-2011 cor1-2012
IEC 62047-1-2016 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 1: Terms and definitions
IEC 62046-2018 Safety of machinery - Application of protective equipment to detect the presence of persons
IEC 62047-11-2013 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 11: Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems
IEC 62047-12-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
IEC 62047-13-2012 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 13: Bend - and shear - type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures