496019167 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 62047-13-2012 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 13: Bend - and shear - type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 13: Методы испытаний изгиба и сдвига для измерения адгезионной прочности структур MEMS

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 62047-13-2012 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 13: Bend - and shear - type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 13: Методы испытаний изгиба и сдвига для измерения адгезионной прочности структур MEMS
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 62047-13-2012» устанавливает методы испытаний на сдвиг, обеспечивая стандартные процедуры измерения прочности соединений в микроэлектромеханических системах (MEMS). Его основное назначение заключается в предоставлении ориентира для производителей и лабораторий в области оценки адгезии материалов, используемых в MEMS, что позволяет обеспечить надёжность и долговечность этих устройств в реальных условиях эксплуатации.

Основные методы, регламентируемые документом, включают испытания на сдвиг и изгиб, которые направлены на измерение прочности соединений между различными компонентами MEMS. Важными аспектами являются параметры, такие как скорость нагружения, уровень нагрузки и условия проведения испытаний, которые должны соответствовать строгим требованиям, установленным стандартом, чтобы гарантировать воспроизводимость результатов.

Технические детали испытаний включают классификацию измеряемых величин, таких как максимальное сопротивление сдвигу, а также условия, при которых проводятся тесты, например, температура и влажность. Данный стандарт также учитывает потенциальные факторы, которые могут влиять на результаты испытаний, что позволяет пользователям тщательно контролировать условия проведения тестов для достижения надежных результатов.

Целевая аудитория стандарта охватывает производителей MEMS, научные и исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, ответственные за соблюдение качества и безопасности продукции. Документ предоставляет всем участникам процессов разработки и тестирования четкие и детализированные методические рекомендации, что способствует точности и согласованности в оценках прочности материала.

Практическое значение стандарта заключает в увеличении безопасности и качества MEMS, поскольку повышение прочности соединений непосредственно влияет на надёжность работы этих систем. Стандарт также способствует улучшению охраны труда, так как гарантирует, что компоненты, подверженные нагрузкам, будут функционировать без риска разрушения или отказа в критических приложениях. При наличии изменений или дополнений в документе рассматриваются актуальные методы и технологии, что обеспечивает его соответствие современным требованиям и тенденциям в области MEMS.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 62047-12-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 12: Метод испытания усталости изгиба тонких пленок с использованием резонансных колебаний структур MEMS PDF IEC 62047-11-2013 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 11: Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 11: Метод испытаний коэффициентов линейного термического расширения свободных материалов для микроэлектромеханических систем PDF IEC 62047-10-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 10: Тест сжатия микропалочки для материалов МЭМС PDF IEC 62047-14-2012 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 14: Метод измерения предела формирования металлических пленок PDF IEC 62047-15-2015 PDF IEC 62047-16-2015 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 16: Test methods for determining residual stresses of MEMS films - Wafer curvature and cantilever beam deflection methods Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 16: Методы испытаний для определения остаточных напряжений пленок MEMS - Методы кривизны пластины и изгиба балки