496249012 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN EN 60749-31-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic encapsulated devices (internally induced) (IEC 60749-31:2002 + Corr. 1:2003) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 31: Пожароопасность пластиковых корпусов (внутренне индуцированная) (IEC 60749-31:2002 + Corr. 1:2003)

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
DIN EN 60749-31-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic encapsulated devices (internally induced) (IEC 60749-31:2002 + Corr. 1:2003) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 31: Пожароопасность пластиковых корпусов (внутренне индуцированная) (IEC 60749-31:2002 + Corr. 1:2003)
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN EN 60749-31-2003» представляет собой стандарт, касающийся механических и климатических испытаний полупроводниковых устройств, с акцентом на воспламеняемость пластиковых упаковок устройств, в частности, тех, что потенциально могут быть подвергнуты внутреннему воздействию. Этот стандарт является частью более широкой группы норм, связанных с испытаниями надежности и безопасностью полупроводниковых компонентов в различных условиях эксплуатации.

Основная цель документа заключается в установлении измеримых методов, параметров и требований для оценки воспламеняемости пластиковых упаковок полупроводниковых устройств. Важно отметить, что стандарт включает описания тестирования, которые должны быть выполнены для определения способности материалов к воспламенению и горению. Ключевые аспекты, регулируемые документом, включают условия испытаний, такие как температура, время воздействия и оценка полученных данных.

Методы испытания, изложенные в стандарте, обеспечивают систематическую проверку материалов на соответствие критериям безопасности, устанавливаемым для применения в промышленности. Важные технические детали включают внутренние условия испытаний, такие как типы источников зажигания, условия окружающей среды и детали конструкции тестируемых образцов. Измеряемые величины могут включать скорость горения, время оплавления и степень распространения пламени, что позволяет адекватно оценить поведение материалов в критических ситуациях.

Целевая аудитория документа включает производителей полупроводниковых устройств, испытательные лаборатории и регулирующие органы, занимающиеся вопросами безопасности продукции. Этот стандарт помогает обеспечить соответствие продуктов требованиям, что, в свою очередь, способствует повышению доверия со стороны потребителей и снижению рисков, связанных с использованием данных устройств в различных приложениях.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность изделий, качество производства, охрану труда и совместимость с другими компонентами. Соблюдение требований, изложенных в документе, способствует созданию более высокого уровня защиты, минимизируя риски возникновения пожаров и других опасностей, связанных с использованием полупроводниковых устройств. Стандарт также может включать изменения или дополнения, отражающие последние достижения в области материаловедения и технологии производства, которые служат для обеспечения более строгих критериев безопасности.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN EN 60749-30-2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005 + A1:2011) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 30: Предварительная обработка негерметичных поверхностно-монтируемых устройств перед испытаниями на надежность (IEC 60749-30:2005 + A1:2011) PDF DIN EN 60749-3 E-2017 PDF DIN EN 60749-3-2018 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (IEC 60749-3:2017); German version EN 60749-3:2017 Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 3: Внешний визуальный осмотр (IEC 60749-3:2017); немецкая версия EN 60749-3:2017 PDF DIN EN 60749-32-2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced) (IEC 60749-32:2002 + Cor. :2003 + A1:2010) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 32: Пожароопасность пластиковых корпусов (внешне индуцированная) (IEC 60749-32:2002 + Cor. :2003 + A1:2010) PDF DIN EN 60749-33-2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave (IEC 60749-33:2004) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 33: Ускоренное сопротивление влаге - Автоклав без предварительного воздействия (IEC 60749-33:2004) PDF DIN EN 60749-34-2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling (IEC 60749-34:2010) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 34: Циклическое напряжение (IEC 60749-34:2010)