Top.Mail.Ru
British standard — страница 1077 | Информпроект Групп
Продукты и решения
Нормативная база
Для специалистов
Сервисное сопровождение
О компании
Для дистрибьюторов
Технологии
Пресс-центр
Отзывы
Контакты
8-800-555-01-33
Звонок по России бесплатный
Более 25 000 000 актуальных правовых
и нормативно-технических документов
Найти документ

Каталог документов

British standard

Стандарты British standard из раздела международных и зарубежных документов.

Перейти к документам

Картотека

Документы раздела

Страница 1077 · Показано документов: 20

  10. British standard

    IEC 63068-4-2022 Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and Полупроводниковые устройства - Критерии неразрушающего распознавания дефектов в гомоэпитаксиальных пластинах карбида кремния для силовых устройств - Часть 4: Процедура идентификации и оценки дефектов с использованием комбинированного метода оптической проверки и

    НД 495964035

  11. British standard

    BS IEC 63068-3-2020 Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Part 3: Test method for defects using photoluminescence Полупроводниковые устройства - Критерии неразрушающего контроля дефектов в гомоэпитаксиальных пластинах карбида кремния для силовых устройств Часть 3: Метод испытаний дефектов с использованием фотолюминесценции

    НД 495964033

  12. British standard

    BS IEC 63068-2-2019 Semiconductor devices – Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Part 2: Test method for defects using optical inspection Полупроводниковые устройства – Критерии неразрушающего контроля дефектов в гомоэпитаксиальных пластинах карбида кремния для силовых устройств Часть 2: Метод испытаний дефектов с использованием оптической проверки

    НД 495964031

  13. British standard

    BS IEC 63068-1-2019 Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Part 1: Classification of defects Полупроводниковые устройства - Критерии неразрушающего распознавания дефектов в карбиде кремния гомоэпитаксиальных пластинах для силовых устройств Часть 1: Классификация дефектов

    НД 495964029

  17. British standard

    IEC 63026-2019 Submarine power cables with extruded insulation and their accessories for rated voltages from 6 kV (Um = 7,2 kV) up to 60 kV (Um = 72,5 kV) - Test methods and requirements Кабели подводной передачи энергии с экструдированной изоляцией и их аксессуары для номинальных напряжений от 6 кВ (Um = 7,2 кВ) до 60 кВ (Um = 72,5 кВ) – Методы испытаний и требования

    НД 495964021