Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
ГОСТ Р 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки
ГОСТ Р 8.635-2007
Группа Т88.1
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Государственная система обеспечения единства измерений
МИКРОСКОПЫ СКАНИРУЮЩИЕ ЗОНДОВЫЕ АТОМНО-СИЛОВЫЕ
Методика калибровки
State system for ensuring the uniformity of measurements.
Atomic-force scanning probe microscopes. Methods for calibration
ОКС 17.040.01
Дата введения 2008-08-01
Предисловие
Цели и принципы стандартизации в Российской Федерации установлены Федеральным законом от 27 декабря 2002 г. N 184-ФЗ "О техническом регулировании", а правила применения национальных стандартов Российской Федерации - ГОСТ Р 1.0-2004 "Стандартизация в Российской Федерации. Основные положения"
1 РАЗРАБОТАН Открытым акционерным обществом "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума" и Государственным образовательным учреждением высшего профессионального образования "Московский физико-технический институт (государственный университет)"
2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 441 "Нанотехнологии и наноматериалы" Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии
3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 20 ноября 2007 г. N 318-ст
4 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодно издаваемом информационном указателе "Национальные стандарты", а текст изменений и поправок - в ежемесячно издаваемых указателях "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ежемесячно издаваемом указателе "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет
1 Область применения
Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы (далее - микроскопы), применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 до 10
м, и устанавливает методику их калибровки с использованием рельефных мер по ГОСТ Р 8.628 и ГОСТ Р 8.629.
2 Нормативные ссылки
В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие стандарты:
ГОСТ Р ИСО 14644-2-2001 Чистые помещения и связанные с ними контролируемые среды. Часть 2. Требования к контролю и мониторингу для подтверждения постоянного соответствия ГОСТ Р ИСО 14644-1*
________________
* ГОСТ Р ИСО 14644-1-2000 отменен; с 01.04.2004 г. действует ГОСТ ИСО 14644-1-2002.
Примечание - При пользовании настоящим стандартом целесообразно проверить действие ссылочных стандартов в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет или по ежегодно издаваемому информационному указателю "Национальные стандарты", который опубликован по состоянию на 1 января текущего года, и по соответствующим ежемесячно издаваемым информационным указателям, опубликованным в текущем году. Если ссылочный документ заменен (изменен), то при пользовании настоящим стандартом следует руководствоваться заменяющим (измененным) документом. Если ссылочный документ отменен без замены, то положение, в котором дана ссылка на него, применяется в части, не затрагивающей эту ссылку.
3 Термины и определения
В настоящем стандарте применены следующие термины с соответствующими определениями.
3.1 рельеф поверхности твердого тела (рельеф поверхности): Поверхность твердого тела, отклонения которой от идеальной плоскости обусловлены естественными причинами или специальной обработкой.
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «ГОСТ Р 8 635-2007» устанавливает методику калибровки сканирующих зондовых атомно-силовых микроскопов в рамках Государственной системы обеспечения единства измерений (ГСИ). Основное назначение стандарта заключается в обеспечении точности и достоверности измерений, проводимых с использованием данного оборудования. Сфера его применения охватывает научные исследования, промышленные испытания и контроль качества материалов, где необходимы высокоточные измерения на наноуровне.
Ключевыми аспектами, регламентируемыми данным стандартом, являются методы калибровки, параметры измерений и требования к оборудованию. Стандарт описывает процедуры, которые необходимо выполнять для обеспечения корректной работы атомно-силовых микроскопов, включая условия испытаний и необходимые контрольные меры. Важными параметрами калибровки являются разрешающая способность, стабильность и воспроизводимость измерений, что критично для достижения высоких стандартов качества.
Технические детали, указанные в документе, включают условия испытаний, такие как температура и влажность окружающей среды, а также классификации измеряемых величин, например, силы взаимодействия между зондом и образцом. Эти параметры играют важную роль в обеспечении точности и надежности получаемых результатов. Стандарт также описывает методы оценки неопределенности измерений, что является важным аспектом для лабораторий и исследовательских учреждений.
Целевая аудитория данного стандарта включает производителей микроскопов, научные и исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, ответственные за соблюдение норм и стандартов в области измерений. Стандарт служит основой для разработки новых методов калибровки и улучшения существующих технологий, что способствует повышению качества и надежности научных исследований.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество измерений, а также на охрану труда при работе с высокотехнологичным оборудованием. Соблюдение данного стандарта позволяет обеспечить совместимость различных систем и устройств, используемых в научных и промышленных приложениях. В документе отсутствуют значительные изменения или дополнения, что подчеркивает его актуальность и стабильность в области калибровки атомно-силовых микроскопов.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»