495963623 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 62047-33-2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 33: MEMS piezoresistive pressure-sensitive device Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 33: Мемс-пьезорезистивный давлением чувствительный датчик

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 62047-33-2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 33: MEMS piezoresistive pressure-sensitive device Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 33: Мемс-пьезорезистивный давлением чувствительный датчик
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 62047-33-2019» устанавливает стандарты для полупроводниковых устройств, включая микроэлектромеханические системы (MEMS), с особым акцентом на пьезорезистивные давлениечувствительные устройства. Он служит основным руководством для разработчиков и производителей подобных технологий, обеспечивая единые правила и методы, что, в свою очередь, позволяет повысить качество и безопасность продукции на рынке. Стандарт охватывает широкий спектр применений, включая автоматизацию, медицинские устройства и системную интеграцию.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми в документе, являются методы испытаний, параметры производительности и требования к конструкции пьезорезистивных датчиков давления. Стандарт устанавливает детализированные процедуры испытаний, обеспечивая надежность и точность результатов. Это включает методики, параметры работы и критерии допустимых отклонений, что критически важно для обеспечения качества конечного продукта и его функциональности.

Важные технические детали, указанные в документе, касаются условий испытаний и классификаций измеряемых величин, что позволяет гарантировать соответствие устройств определенным требованиям и нормам. Стандарт охватывает различные методы контроля, включая теплостойкость, стойкость к электромагнитным помехам, долговечность и условия эксплуатации. Этот уровень детализации позволяет разработать надежные изделия, отвечающие современным технологическим требованиям.

Целевой аудиторией данного стандарта являются производители, лаборатории по контролю качества, а также государственные контролирующие органы, заинтересованные в обеспечении безопасности и надежности продукции. Документ предлагает основные ориентиры для создания, проверки и эксплуатации пьезорезистивных устройств, что позволяет всем участникам процесса уверенно ориентироваться в актуальных требованиях.

Практическое значение стандарта «IEC 62047-33-2019» заключается в его влиянии на безопасность, качество и охрану труда, а также на совместимость с существующими технологиями. Соблюдение данного стандарта помогает минимизировать риски, связанные с отказами оборудования и несчастными случаями, а также улучшает интеграцию новых решений в существующие системы. Наличие изменений или дополнений в стандарте направлено на актуализацию требований с учетом современных тенденций и технологий в области MEMS и полупроводниковых устройств.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF BS IEC 62047-32-2019 Semiconductor devices — Micro-electromechanical devices Part 32: Test method for the nonlinear vibration of MEMS resonators Полупроводниковые устройства — Микроэлектромеханические устройства Часть 32: Метод испытаний нелинейных колебаний резонаторов MEMS PDF IEC 62047-31-2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 31: Four-point bending test method for interfacial adhesion energy of layered MEMS materials Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 31: Метод четырехточечного изгиба для определения энергии сцепления интерфейса материалов многослойных MEMS PDF BS IEC 62047-30-2017 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 30: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of MEMS piezoelectric thin film Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства Часть 30: Методы измерения электромеханических характеристик пьезоэлектрических тонких пленок MEMS PDF IEC 62047-34-2019 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 34: Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 34: Методы испытаний для МЭМС-датчиков давления пьезорезистивного типа на кремниевой пластине PDF IEC 62047-35-2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 35: Метод тестирования электрических характеристик при изгибе для гибких электромеханических устройств PDF BS IEC 62047-36-2019 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices Part 36: Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films Полупроводниковые устройства — Микроэлектромеханические устройства Часть 36: Методы испытаний на воздействие окружающей среды и электрическую прочность для пьезоэлектрических тонких пленок MEMS