IEC

Найти →

Страница 315 · Показано документов: 20

6281. IEC

      IEC 60755-1-2022 General safety requirements for residual current operated protective devices - Part 1: Residual current operated protective devices for DC systems Общие требования безопасности для устройств защитного отключения по residual current - Часть 1: Устройства защитного отключения по residual current для систем постоянного тока↗

      НД 496013305

6282. IEC

      IEC 60754-3-2018 Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 3: Measurement of low level of halogen content by ion chromatography Тестирование газов, образующихся при сгорании материалов из кабелей - Часть 3: Измерение низкого уровня содержания галогенов методом ионной хроматографии↗

      НД 496013303

6283. IEC

      IEC 60754-2-2019↗

      НД 496013301

6284. IEC

      IEC 60754-1-2019↗

      НД 496013299

6285. IEC

      IEC 60751-2022 Industrial platinum resistance thermometers and platinum temperature sensors Промышленные термометры сопротивления платины и датчики температуры из платины↗

      НД 496013297

6286. IEC

      IEC 60750-1983 Item designation in electrotechnology. Обозначение элементов в электротехнологии.↗

      НД 496013295

6287. IEC

      IEC 60749-9-2017 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 9: Permanence of marking Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 9: Непрерывность маркировки↗

      НД 496013293

6288. IEC

      IEC 60749-8-2002 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 8: Sealing Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 8: Запаивание↗

      НД 496013291

6289. IEC

      IEC 60749-8-2002 Cor2-2003 IEC 60749-8-2002 Cor2-2003↗

      НД 496013289

6290. IEC

      IEC 60749-8-2002 Cor1-2003 IEC 60749-8-2002 Cor1-2003↗

      НД 496013287

6291. IEC

      IEC 60749-7-2011 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 7: Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов↗

      НД 496013285

6292. IEC

      IEC 60749-6-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 6: Хранение при высокой температуре↗

      НД 496013283

6293. IEC

      IEC 60749-5-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 5: Постоянный тест температуры, влажности и напряжения↗

      НД 496013281

6294. IEC

      IEC 60749-44-2016 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 44: Метод испытаний на эффект однократного события (SEE) при облучении нейтронным пучком для полупроводниковых устройств↗

      НД 496013279

6295. IEC

      IEC 60749-43-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 43: Руководящие указания по планам квалификации надежности ИС↗

      НД 496013277

6296. IEC

      IEC 60749-42-2014 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 42: Temperature and humidity storage Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 42: Хранение при температуре и влажности↗

      НД 496013275

6297. IEC

      IEC 60749-41-2020 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 41: Стандартные методы испытаний надежности непротивовосстановительных памяти устройств↗

      НД 496013273

6298. IEC

      IEC 60749-40-2011 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 40: Board level drop test method using a strain gauge Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 40: Метод испытаний на падение на уровне платы с использованием датчика деформации↗

      НД 496013271

6299. IEC

      IEC 60749-4-2017 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 4: Влажность, стационарное состояние, тестирование при высокой скорости стресса (HAST)↗

      НД 496013269

6300. IEC

      IEC 60749-39-2021 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 39: Измерение диффузии влаги и растворимости в воде в органических материалах, используемых для компонентов полупроводниковых устройств↗

      НД 496013267