496019183 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 62047-20-2014 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 20: Gyroscopes Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 20: Гироскопы

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 62047-20-2014 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 20: Gyroscopes Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 20: Гироскопы
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 62047-20-2014» является стандартом, посвящённым микромеханическим устройствам, в частности, гироскопам, которые используются в различных высоких технологиях. Основная цель данного документа — задать единые требования к характеристикам и испытаниям гироскопов, что обеспечивает их высокую надёжность и стабильность в работе. Стандарт применяется в области производства электроники, в автомобилестроении, а также в авиационной и космической отраслях, где гироскопы играют ключевую роль в навигационных системах.

Ключевыми аспектами, которые регламентируются данным документом, являются испытательные методы, параметры производительности и требуемые условия. Важным является описание процессов сертификации гироскопов, которые должны соответствовать установленным требованиям, касающимся точности измерений и устойчивости к внешним воздействиям. Стандарт также охватывает методы определения характеристик гироскопов, что позволяет гарантировать их соответствие установленным нормам.

Документ включает информацию о важных технических деталях, таких как условия испытаний, необходимые для проверки производительности гироскопов, а также классификации, позволяющие различать устройства по ряду параметров. Измеряемые величины, такие как угловая скорость и чувствительность, имеют значительное влияние на общую эффективность гироскопов, что подчеркивает важность правильного их тестирования.

Целевой аудиторией данного стандарта являются производители гироскопов, лаборатории, проводящие испытания, а также контролирующие органы, отвечающие за сертификацию продукции. Важно, чтобы все заинтересованные стороны имели возможность получить доступ к актуальной информации и руководствам, изложенным в стандарте, что способствует повышения общего уровня качества в отрасли.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость гироскопов в различных приложениях. Следуя требованиям стандарта, производители могут повысить доверие клиентов к своей продукции, а также значительно снизить риски, связанные с эксплуатацией устройств в критических условиях. Стандарт также обновляется с учётом новых технологических достижений, что гарантирует его актуальность и жизнеспособность в быстро меняющейся среде электроники.

В последние обновления документа были внесены изменения, касающиеся уточнения требований к испытаниям гироскопов, что позволяет улучшить точность результатов. Данные изменения направлены на оптимизацию методов тестирования и обеспечения более строгого контроля качества на всех этапах жизненного цикла изделия.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 62047-2-2006 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 2: Tensile testing method of thin film materials Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 2: Метод испытания растяжения материалов тонких пленок PDF IEC 62047-19-2013 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 19: Electronic compasses Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 19: Электронные компасы PDF IEC 62047-18-2013 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 18: Bend testing methods of thin film materials Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 18: Методы испытания изгиба материалов тонких пленок PDF IEC 62047-21-2014 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 21: Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 21: Метод испытания коэффициента Пуассона для материалов тонких пленок MEMS PDF IEC 62047-22-2014 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 22: Метод испытания электромеханического растяжения для проводящих тонких пленок на гибких субстратах PDF IEC 62047-25-2016 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 25: Silicon based MEMS fabrication technology – Measurement method of pull-press and shearing strength of micro bonding area Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 25: Технология изготовления MEMS на основе кремния – Метод измерения прочности сжатия и сдвига микросвязей