496019205 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 62047-32-2019 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 32: Test method for the nonlinear vibration of MEMS resonators Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 32: Метод испытаний на нелинейные колебания резонаторов МЭМС

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 62047-32-2019 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 32: Test method for the nonlinear vibration of MEMS resonators Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 32: Метод испытаний на нелинейные колебания резонаторов МЭМС
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 62047-32-2019» касается полупроводниковых устройств и микромеханических устройств, сосредоточиваясь на методах испытаний для нелинейных колебаний резонаторов MEMS. Его основное назначение заключается в предоставлении стандартизированных процедур и критериев для оценки и характеристики поведения резонаторов под воздействием вибрации, что является важным для обеспечения их надежности и эффективности при эксплуатации.

Регламентируемые аспекты включают методы испытаний, параметры испытаний, а также требования, касающиеся оборудования и условий тестирования. Документ определяет стандартные процедуры, которым должны следовать производители и исследовательские лаборатории для получения сравнимых и воспроизводимых результатов в различных условиях.

Важные технические детали документа охватывают условия испытаний, такие как температура и давление, а также классификации типов колебаний, которые подлежат измерению. Измеряемые величины могут включать частоту резонанса, амплитуду и нелинейные характеристики поведения резонаторов в режиме вибрации, что важно для разработки высококачественных устройств.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей микромеханических систем, лаборатории, занимающиеся испытаниями и сертификацией, а также контролирующие органы, в задачу которых входит обеспечение соблюдения стандартов качества и безопасности в производстве устройств.

Практическое значение стандарта состоит в его влиянии на безопасность и качество продукции, а также на эффективность процессов охраны труда и совместимости устройств. Правильное применение методов, описанных в документе, может способствовать снижению рисков, связанных с эксплуатацией MEMS-резонаторов, и улучшению общего уровня доверия к таким устройствам в промышленности.

В документе также указаны изменения по сравнению с предыдущими версиями, включая уточнение методов испытаний и расширение диапазона условий, при которых проводятся тесты. Эти дополнения направлены на современное улучшение точности измерений и повышение надежности результатов испытаний, что является важным для всех участников процесса разработки и сертификации резонаторов MEMS.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 62047-31-2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 31: Four-point bending test method for interfacial adhesion energy of layered MEMS materials Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 31: Метод четырехточечного изгиба для определения энергии сцепления интерфейса материалов многослойных MEMS PDF IEC 62047-30-2017 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices - Part 30: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of MEMS piezoelectric thin film Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 30: Методы измерения электромеханических характеристик пьезоэлектрических тонких плёнок МЭМС PDF IEC 62047-3-2006 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 3: Тонкостенные стандартные образцы для растяжения PDF IEC 62047-33-2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 33: MEMS piezoresistive pressure-sensitive device Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 33: Мемс-пьезорезистивный давлением чувствительный датчик PDF IEC 62047-34-2019 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 34: Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 34: Методы испытаний для МЭМС-датчиков давления пьезорезистивного типа на кремниевой пластине PDF IEC 62047-35-2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 35: Метод тестирования электрических характеристик при изгибе для гибких электромеханических устройств