Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
IEC 62047-35-2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices
Документ «IEC 62047-35-2019» является стандартом, касающимся полупроводниковых устройств и микроэлектромеханических систем (MEMS). Он направлен на разработку и регулирование испытательных методов для электрических характеристик гибких электро-механических устройств под действием изгибных деформаций. Стандарт предназначен для применения в области разработки, производства и испытаний данных устройств, обеспечивая необходимую эксплуатационную надежность и функциональность.
Основными аспектами документа являются методы тестирования, параметры и требования, которые необходимы для оценки электрических характеристик гибких устройств. Устанавливаются правила для проведения испытаний, которые учитывают различные условия изгиба и напряжения, а также конкретные электрические величины, подлежащие измерению. Эти параметры помогают гарантировать высокое качество и безопасность эксплуатации мемс-устройств.
Среди важных технических деталей стандарт определяет условия испытаний, такие как температура, влажность и скорость изгиба, что позволяет удостовериться в устойчивости и надежности устройств в различных эксплуатационных условиях. Классификация измеряемых величин включает в себя как статические, так и динамические напряжения и токи. Такие классификации критичны для обеспечения согласованности результатов испытаний.
Целевая аудитория стандарта охватывает производителей гибких электро-механических устройств, испытательные лаборатории и контролирующие органы, обеспечивающие соблюдение правил и требований безопасности. Стандарт служит полезным инструментом в их работе, предлагая четкие рекомендации и критерии для оценки характеристик изделий.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость продуктов. Соблюдение требований стандарта способствует снижению рисков, связанных с эксплуатацией устройств, а также повышает уровень доверия потребителей к рассматриваемым технологиям. Изменения в стандарте могут предусматриваеть обновления методов испытаний или уточнения параметров, что является важным для адаптации к новейшим технологиям.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
Возможно вас заинтересуют
IEC 62047-34-2019 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 34: Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
IEC 62047-33-2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 33: MEMS piezoresistive pressure-sensitive device
IEC 62047-32-2019 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 32: Test method for the nonlinear vibration of MEMS resonators
IEC 62047-36-2019 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 36: Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
IEC 62047-37-2020 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 37: Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
IEC 62047-38-2021 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 38: Test method for adhesion strength of metal powder paste in MEMS interconnection