496019211 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 62047-35-2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 35: Метод тестирования электрических характеристик при изгибе для гибких электромеханических устройств

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 62047-35-2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 35: Метод тестирования электрических характеристик при изгибе для гибких электромеханических устройств
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 62047-35-2019» является стандартом, касающимся полупроводниковых устройств и микроэлектромеханических систем (MEMS). Он направлен на разработку и регулирование испытательных методов для электрических характеристик гибких электро-механических устройств под действием изгибных деформаций. Стандарт предназначен для применения в области разработки, производства и испытаний данных устройств, обеспечивая необходимую эксплуатационную надежность и функциональность.

Основными аспектами документа являются методы тестирования, параметры и требования, которые необходимы для оценки электрических характеристик гибких устройств. Устанавливаются правила для проведения испытаний, которые учитывают различные условия изгиба и напряжения, а также конкретные электрические величины, подлежащие измерению. Эти параметры помогают гарантировать высокое качество и безопасность эксплуатации мемс-устройств.

Среди важных технических деталей стандарт определяет условия испытаний, такие как температура, влажность и скорость изгиба, что позволяет удостовериться в устойчивости и надежности устройств в различных эксплуатационных условиях. Классификация измеряемых величин включает в себя как статические, так и динамические напряжения и токи. Такие классификации критичны для обеспечения согласованности результатов испытаний.

Целевая аудитория стандарта охватывает производителей гибких электро-механических устройств, испытательные лаборатории и контролирующие органы, обеспечивающие соблюдение правил и требований безопасности. Стандарт служит полезным инструментом в их работе, предлагая четкие рекомендации и критерии для оценки характеристик изделий.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость продуктов. Соблюдение требований стандарта способствует снижению рисков, связанных с эксплуатацией устройств, а также повышает уровень доверия потребителей к рассматриваемым технологиям. Изменения в стандарте могут предусматриваеть обновления методов испытаний или уточнения параметров, что является важным для адаптации к новейшим технологиям.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 62047-34-2019 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 34: Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 34: Методы испытаний для МЭМС-датчиков давления пьезорезистивного типа на кремниевой пластине PDF IEC 62047-33-2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 33: MEMS piezoresistive pressure-sensitive device Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 33: Мемс-пьезорезистивный давлением чувствительный датчик PDF IEC 62047-32-2019 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 32: Test method for the nonlinear vibration of MEMS resonators Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 32: Метод испытаний на нелинейные колебания резонаторов МЭМС PDF IEC 62047-36-2019 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 36: Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 36: Методы испытаний на воздействие окружающей среды и диэлектрическую прочность для пьезоэлектрических тонких пленок MEMS PDF IEC 62047-37-2020 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 37: Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 37: Методы испытаний на воздействие окружающей среды мемс-пьезоэлектрических тонких пленок для применения в датчиках PDF IEC 62047-38-2021 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 38: Test method for adhesion strength of metal powder paste in MEMS interconnection Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 38: Метод испытания на сцепление металлической пасты в соединениях MEMS