Код ОКС/МКС 17.040.01, Линейные и угловые измерения в целом
Классификация стандартов и доступные нормативные документы по выбранному коду.
Нормативная база
Документы по коду 17.040.01
17 найдено
Информация носит ознакомительный характер и может быть неполной. Актуальный состав документов доступен в информационной сети «Техэксперт».
- ГОСТ Р 8.697-2010 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа
- ГОСТ 25349-88 Основные нормы взаимозаменяемости. Единая система допусков и посадок. Поля допусков деталей из пластмасс
- ГОСТ Р 8.763-2011 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 1х10_(-9) до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм
- ГОСТ Р 8.700-2010 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа
- ГОСТ 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Микроскопы электронные растровые. Методика поверки (Переиздание)
- ГОСТ 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки (Переиздание)
- ГОСТ 8.592-2009 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления (Переиздание)
- ГОСТ 8.591-2009 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки (Переиздание)
- ГОСТ Р 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра
- ГОСТ Р 8.628-2007 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления (с Изменением N 1)
- ГОСТ Р 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра
- ГОСТ Р 8.644-2008 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика калибровки
- ГОСТ Р 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки
- ГОСТ Р 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки
- ГОСТ Р 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Микроскопы электронные растровые. Методика поверки (с Изменением N 1)
- ГОСТ Р 8.630-2007 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки (с Изменением N 1)
- ГОСТ Р 8.629-2007 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки (с Изменением N 1)
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»