Код ОКС/МКС 17.040, Линейные и угловые измерения
Классификация стандартов и доступные нормативные документы по выбранному коду.
Нормативная база
Документы по коду 17.040
337 найдено
Информация носит ознакомительный характер и может быть неполной. Актуальный состав документов доступен в информационной сети «Техэксперт».
- ГОСТ Р 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Микроскопы электронные растровые. Методика поверки (с Изменением N 1)
- ГОСТ Р 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки
- ГОСТ Р 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки
- ГОСТ Р 8.644-2008 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика калибровки
- ГОСТ Р 53090-2008 (ИСО 2692:2006) Основные нормы взаимозаменяемости. Характеристики изделий геометрические. Требования максимума материала, минимума материала и взаимодействия
- ГОСТ Р 53089-2008 (ИСО 5458:1998) Основные нормы взаимозаменяемости. Характеристики изделий геометрические. Установление позиционных допусков
- ГОСТ Р 53440-2009 (ИСО 1119:1998) Основные нормы взаимозаменяемости. Характеристики изделий геометрические. Нормальные конусности и углы конусов (Переиздание)
- ГОСТ Р 53441-2009 (ИСО 2538:1998) Основные нормы взаимозаменяемости. Характеристики изделий геометрические. Нормальные углы и уклоны призм (Переиздание)
- ГОСТ Р 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра
- ГОСТ Р 8.697-2010 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа
- ГОСТ Р 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра
- ГОСТ 8.591-2009 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки (Переиздание)
- ГОСТ 8.592-2009 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления (Переиздание)
- ГОСТ 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки (Переиздание)
- ГОСТ 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Микроскопы электронные растровые. Методика поверки (Переиздание)
- ГОСТ Р 8.700-2010 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа
- ГОСТ Р 53442-2009 (ИСО 1101:2004) Основные нормы взаимозаменяемости. Характеристики изделий геометрические. Допуски формы, ориентации, месторасположения и биения
- ГОСТ Р 8.677-2009 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Калибры резьбовые цилиндрические. Методика поверки
- ГОСТ Р 8.671-2009 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Приборы активного контроля линейных параметров. Методика поверки
- ГОСТ Р 8.670-2009 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Преобразователи индуктивные прецизионные для измерения линейных размеров (параметров). Методика поверки
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»