Код ОКС/МКС 31.080, Полупроводниковые приборы
Классификация стандартов и доступные нормативные документы по выбранному коду.
Нормативная база
Документы по коду 31.080
184 найдено
Информация носит ознакомительный характер и может быть неполной. Актуальный состав документов доступен в информационной сети «Техэксперт».
- ГОСТ 18986.5-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
- ГОСТ 18986.6-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
- ГОСТ 18986.7-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
- ГОСТ 18986.8-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления (с Изменениями N 1, 2)
- ГОСТ 18986.9-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления (с Изменениями N 1, 2, 3)
- ГОСТ 18986.10-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности (с Изменениями N 1, 2)
- ГОСТ 18986.11-84 Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь
- ГОСТ 18986.12-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода
- ГОСТ 18986.13-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора
- ГОСТ 18986.14-85 Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений
- ГОСТ 18986.15-75 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации (с Изменением N 1)
- ГОСТ 18986.16-72 Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока (с Изменением N 1)
- ГОСТ 18986.17-73 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации (с Изменением N 1, с Поправкой)
- ГОСТ 18986.18-73 Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости
- ГОСТ 18986.19-73 Варикапы. Метод измерения добротности (с Изменениями N 1, 2, 3)
- ГОСТ 18986.20-77 Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим (с Изменением N 1, с Поправкой)
- ГОСТ 18986.21-78 Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации
- ГОСТ 18986.22-78 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления (с Изменением N 1)
- ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1)
- ГОСТ 18986.24-83 Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»