IEC 62052-21-2004 amd1-2016 cor1-2018 IEC 62052-21-2004 amd1-2016 cor1-2018
НД 496019245
Каталог документов
IEC
Стандарты IEC из раздела международных и зарубежных документов.
Перейти к документамКартотека
Документы раздела
Страница 167 · Показано документов: 20
IEC 62052-11-2020 Electricity metering equipment - General requirements, tests and test conditions - Part 11: Metering equipment Оборудование для измерения электрической энергии - Общие требования, испытания и условия испытаний - Часть 11: Оборудование для измерения
НД 496019243
IEC 62050-2005 (IEEE 1076.6)
НД 496019241
IEC 62047-9-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS Полупроводниковые устройства – Микромеханические устройства – Часть 9: Измерение прочности соединения между пластинами для MEMS
НД 496019239
IEC 62047-9-2011 cor1-2012 IEC 62047-9-2011 cor1-2012
НД 496019237
IEC 62047-8-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films Полупроводниковые устройства – Микромеханические устройства – Часть 8: Метод испытания изгиба полосы для измерения механических свойств тонких пленок
НД 496019235
IEC 62047-7-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 7: MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection Полупроводниковые устройства – Микромеханические устройства – Часть 7: Фильтры и дуплексеры BAW для MEMS для радиочастотного контроля и выбора
НД 496019233
IEC 62047-6-2009 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials Полупроводниковые устройства – Микромеханические устройства – Часть 6: Методы испытаний на усталость осевого типа тонких материалов
НД 496019231
IEC 62047-5-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 5: RF MEMS switches Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 5: Радиочастотные МЭМС-переключатели
НД 496019229
IEC 62047-5-2011 cor1-2012 IEC 62047-5-2011 cor1-2012
НД 496019227
IEC 62047-42-2022 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 42: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 42: Методы измерения электромеханических характеристик пьезоэлектрических МЭМС микромостов
НД 496019225
IEC 62047-41-2021 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 41: RF MEMS circulators and isolators Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 41: Радиочастотные MEMS-циркуляторы и изоляторы
НД 496019223
IEC 62047-40-2021 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 40:Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 40: Методы тестирования порога микроразрядных инерционных МЭМС-переключателей
НД 496019221
IEC 62047-4-2008 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 4: Generic specification for MEMS Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 4: Общая спецификация для МЭМС
НД 496019219
IEC 62047-38-2021 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 38: Test method for adhesion strength of metal powder paste in MEMS interconnection Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 38: Метод испытания на сцепление металлической пасты в соединениях MEMS
НД 496019217
IEC 62047-37-2020 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 37: Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 37: Методы испытаний на воздействие окружающей среды мемс-пьезоэлектрических тонких пленок для применения в датчиках
НД 496019215
IEC 62047-36-2019 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 36: Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 36: Методы испытаний на воздействие окружающей среды и диэлектрическую прочность для пьезоэлектрических тонких пленок MEMS
НД 496019213
IEC 62047-35-2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 35: Метод тестирования электрических характеристик при изгибе для гибких электромеханических устройств
НД 496019211
IEC 62047-34-2019 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 34: Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 34: Методы испытаний для МЭМС-датчиков давления пьезорезистивного типа на кремниевой пластине
НД 496019209
IEC 62047-33-2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 33: MEMS piezoresistive pressure-sensitive device Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 33: Мемс-пьезорезистивный давлением чувствительный датчик
НД 496019207